COSTA, C., CARDOSO, L., MAZZOCCHI, V., PARENTE, C., & SEMICONDUCTORS, I. C. O. T. S. A. T. O. D. C. I. (2014). Multiple diffraction simulation in the study of epitaxial layers.
Referência de acordo com a norma ChicagoCOSTA, C.A.B.S., L.P CARDOSO, V.L MAZZOCCHI, C.B.R PARENTE, e INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE SCIENCE AND TECHNOLOGY OF DEFECT CONTROL IN SEMICONDUCTORS. Multiple Diffraction Simulation in the Study of Epitaxial Layers. 2014.
Referência de acordo com a norma MLACOSTA, C.A.B.S., et al. Multiple Diffraction Simulation in the Study of Epitaxial Layers. 2014.
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