Severiano Sobrinho, V. d. S. (2016). Avaliação de propriedades ópticas e espessura de filmes finos de TiO2 a partir do espectro de transmitância.
Referência de acordo com a norma ChicagoSeveriano Sobrinho, Valmar da Silva. Avaliação De Propriedades ópticas E Espessura De Filmes Finos De TiO2 a Partir Do Espectro De Transmitância. 2016.
Referência de acordo com a norma MLASeveriano Sobrinho, Valmar da Silva. Avaliação De Propriedades ópticas E Espessura De Filmes Finos De TiO2 a Partir Do Espectro De Transmitância. 2016.
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