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Poehls, Leticia Maria Bolzani
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1
Evaluation of single event upset susceptibility of FinFET-based SRAMs with weak resistive defects
por
Copetti, Thiago Santos
Publicado em 2021
Outros Autores:
“
...
Poehls
,
Leticia
Maria
Bolzani
...
”
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Artigo
2
Comparing the impact of power supply voltage on CMOS-and FinFET-based SRAMs in the presence of resistive defects
por
Copetti, Thiago Santos
Publicado em 2020
Outros Autores:
“
...
Poehls
,
Leticia
Maria
Bolzani
...
”
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