Mostrando
1 - 5
resultados de
5
para a busca '
Rotondaro, Antonio L.P.
'
Pular para o conteúdo
Portal do Governo Brasileiro
Toggle navigation
Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia
Início
Sobre
Fontes Coletadas
Indicadores
Contato
Faq
A sua conta
Sair
Entrar
Idioma
Português (Brasil)
English
Todos os campos
Título
Autor
Assunto
Buscar
Busca avançada
Autor
Rotondaro, Antonio L.P.
Exportar
Exportar RIS
Exportar CSV
Mostrando
1 - 5
resultados de
5
para a busca '
Rotondaro, Antonio L.P.
'
, tempo de busca: 0,03s
Refinar Resultados
Ordenar
Relevância
Data descendente
Data ascendente
Área
Autor
Título
1
Stability of zirconium silicate films on Si under vacuum and O/sub 2/ annealing
por
Morais, Jonder
Publicado em 2001
Outros Autores:
“
...
Rotondaro
,
Antonio
L.P
....
”
Acessar documento
Artigo
2
Environment of hafnium and silicon in Hf-based dielectric films : an atomistic study by x-ray absorption spectroscopy and x-ray diffraction
por
Morais, Jonder
Publicado em 2005
Outros Autores:
“
...
Rotondaro
,
Antonio
L.P
....
”
Acessar documento
Artigo
3
Integrity of hafnium silicate/silicon dioxide ultrathin films on Si
por
Morais, Jonder
Publicado em 2002
Outros Autores:
“
...
Rotondaro
,
Antonio
L.P
....
”
Acessar documento
Artigo
4
Hydrogen and deuterium incorporation and transport in hafnium-based dielectric films on silicon
por
Pezzi, Rafael Peretti
Publicado em 2004
Outros Autores:
“
...
Rotondaro
,
Antonio
L.P
....
”
Acessar documento
Artigo
5
Exchange-diffusion reactions in HfSiON during annealing studied by Rutherford backscattering spectrometry, nuclear reaction analysis and narrow resonant nuclear reaction profiling
por
Miotti, Leonardo
Publicado em 2004
Outros Autores:
“
...
Rotondaro
,
Antonio
L.P
....
”
Acessar documento
Artigo
Exportar CSV
Exportar RIS
Carregando...