Aplicação do método Monte Carlo ao estudo da corrente induzida por feixe eletrônico em dispositivos semicondutores

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Weber, Gerald
Data de Publicação: 1987
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Texto Completo: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580211
Resumo: Orientador: Carlos Alberto Ribeiro
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spelling Aplicação do método Monte Carlo ao estudo da corrente induzida por feixe eletrônico em dispositivos semicondutoresSemicondutores - Modelos matemáticosMétodo de Monte CarloOrientador: Carlos Alberto RibeiroDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb WataghinResumo: Simulamos a corrente induzida por feixe eletrônico para um diodo e um laser de heteroestrutura dupla pela técnica de simulação Monte Carlo. Obtemos pelo método Monte Carlo uma distribuição de energia caraterística com a qual calculamos a produção e difusão dos portadores minoritários e a sua coleção pela junção. Desta forma é possível estimar o comprimento de difusão nos dispositivos. A ferramenta produzida possibilita uma nova abordagem dos fenômenos caraterísticos nos dispositivos semicondutores analisados por um microscópio eletrônico de varreduraAbstract: We simulate the electron beam induced current for a diode and a double heterostructure laser with a Monte Carlo simulation technique. We obtain by this simulation 'method¿ a characteristic energy distribution by which we calculate minority carrier production, diffusion and collection al the junction. By this way it is possible to us to make an estimative for the carrier diffusion length in semiconductor devices analyzed by a scanning electron microscopeMestradoFísicaMestre em Física[s.n.]Ribeiro, Carlos Alberto, 1942-Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb WataghinPrograma de Pós-Graduação em FísicaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASWeber, Gerald19871987-02-17T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdf100f. : il.https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580211WEBER, Gerald. Aplicação do método Monte Carlo ao estudo da corrente induzida por feixe eletrônico em dispositivos semicondutores. 1987. 100f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580211. Acesso em: 2 set. 2024.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/59780porreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2015-02-05T15:28:14Zoai::59780Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2015-02-05T15:28:14Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
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