Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 1986 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10183/2245 |
Resumo: | O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados. |
id |
URGS_4f1f06345f71a4caf430b24449ba1030 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:www.lume.ufrgs.br:10183/2245 |
network_acronym_str |
URGS |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
repository_id_str |
1853 |
spelling |
Orellana Hurtado, Carlos JesusSusin, Altamiro AmadeuReis, Ricardo Augusto da LuzWagner, Tiaraju Vasconcellos2007-06-06T17:21:00Z1986http://hdl.handle.net/10183/2245000316300O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.application/pdfporMicroeletrônicaTestes : Circuitos integradosMicroscopio eletronico : VarreduraDepuração : Circuitos integradosUma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônicoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaCurso de Pós-Graduação em Ciência da ComputaçãoPorto Alegre, BR-RS1986mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000316300.pdf000316300.pdfTexto completoapplication/pdf15484068http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/1/000316300.pdf403d2c793bcb7201e1011478fee276bbMD51TEXT000316300.pdf.txt000316300.pdf.txtExtracted Texttext/plain128065http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/2/000316300.pdf.txtb43adace9b5f22111650a64107d2f428MD52THUMBNAIL000316300.pdf.jpg000316300.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1257http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/3/000316300.pdf.jpgebc97403361ad2bfeb4a4454eb5a5230MD5310183/22452018-10-08 08:34:52.299oai:www.lume.ufrgs.br:10183/2245Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-08T11:34:52Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
title |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
spellingShingle |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico Orellana Hurtado, Carlos Jesus Microeletrônica Testes : Circuitos integrados Microscopio eletronico : Varredura Depuração : Circuitos integrados |
title_short |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
title_full |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
title_fullStr |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
title_full_unstemmed |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
title_sort |
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico |
author |
Orellana Hurtado, Carlos Jesus |
author_facet |
Orellana Hurtado, Carlos Jesus |
author_role |
author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Orellana Hurtado, Carlos Jesus |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Susin, Altamiro Amadeu |
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv |
Reis, Ricardo Augusto da Luz Wagner, Tiaraju Vasconcellos |
contributor_str_mv |
Susin, Altamiro Amadeu Reis, Ricardo Augusto da Luz Wagner, Tiaraju Vasconcellos |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Microeletrônica Testes : Circuitos integrados Microscopio eletronico : Varredura Depuração : Circuitos integrados |
topic |
Microeletrônica Testes : Circuitos integrados Microscopio eletronico : Varredura Depuração : Circuitos integrados |
description |
O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados. |
publishDate |
1986 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
1986 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2007-06-06T17:21:00Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/10183/2245 |
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv |
000316300 |
url |
http://hdl.handle.net/10183/2245 |
identifier_str_mv |
000316300 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) instacron:UFRGS |
instname_str |
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) |
instacron_str |
UFRGS |
institution |
UFRGS |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/1/000316300.pdf http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/2/000316300.pdf.txt http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/3/000316300.pdf.jpg |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
403d2c793bcb7201e1011478fee276bb b43adace9b5f22111650a64107d2f428 ebc97403361ad2bfeb4a4454eb5a5230 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) |
repository.mail.fl_str_mv |
lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br |
_version_ |
1810085012906704896 |