Ensaios acelerados em lâmpadas fluorescentes compactas
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2015 |
Tipo de documento: | Trabalho de conclusão de curso |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da UTFPR (da Universidade Tecnológica Federal do Paraná (RIUT)) |
Texto Completo: | http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/18667 |
Resumo: | Ensaio acelerado de vida é uma metodologia que vem sendo aplicada para estimar o tempo de vida dos componentes produzidos na indústria, com intuito de reduzir os custos com manutenção prematura elevando a taxa de disponibilidade dos equipamentos, aumentando a credibilidade e competitividade das empresas. Este artigo propõe aplicar na prática a técnica de ensaios acelerados utilizando como componente de teste lâmpadas eletrônicas, simular o comportamento de sistemas onde estes componentes estão inseridos e aplicar sobre eles carregamentos e estresses controlados visando estimar o tempo de vida mediano em condições normais de uso. Para aumentar a confiabilidade dos dados a serem coletados foi desenvolvida uma bancada didática eletrônica automática para simular a operação do componente e identificar o momento exato da falha reduzindo erros de medição durante o período de ensaio. A coleta de dados foi realizada com sucesso, a bancada e o dispositivo de simulação de ambiente desempenharam sua função conforme projetado algumas melhorias foram identificadas ao longo do processo de coleta de dados, quanto ao resultado da análise, este sofreu interferência de valores discrepantes indicando melhorias no processo de coleta de dados de forma a minimizar estes impactos nos ensaios futuros e melhorar o resultado do experimento. |
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2020-11-23T11:59:12Z2020-11-23T11:59:12Z2015-04-10SOUZA, Nilson José de. Ensaios acelerados em lâmpadas fluorescentes compactas. 2015. 26 f. Trabalho de Conclusão de Curso (Especialização em Engenharia da Confiabilidade) - Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2015.http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/18667Ensaio acelerado de vida é uma metodologia que vem sendo aplicada para estimar o tempo de vida dos componentes produzidos na indústria, com intuito de reduzir os custos com manutenção prematura elevando a taxa de disponibilidade dos equipamentos, aumentando a credibilidade e competitividade das empresas. Este artigo propõe aplicar na prática a técnica de ensaios acelerados utilizando como componente de teste lâmpadas eletrônicas, simular o comportamento de sistemas onde estes componentes estão inseridos e aplicar sobre eles carregamentos e estresses controlados visando estimar o tempo de vida mediano em condições normais de uso. Para aumentar a confiabilidade dos dados a serem coletados foi desenvolvida uma bancada didática eletrônica automática para simular a operação do componente e identificar o momento exato da falha reduzindo erros de medição durante o período de ensaio. A coleta de dados foi realizada com sucesso, a bancada e o dispositivo de simulação de ambiente desempenharam sua função conforme projetado algumas melhorias foram identificadas ao longo do processo de coleta de dados, quanto ao resultado da análise, este sofreu interferência de valores discrepantes indicando melhorias no processo de coleta de dados de forma a minimizar estes impactos nos ensaios futuros e melhorar o resultado do experimento.Accelerated life testing is a methodology that has been applied to estimate the lifetime of the components produced in the industry , in order to reduce the cost of premature maintenance raising equipment availability rate, increasing the credibility and competitiveness. This article proposes to apply in practice the accelerated testing technique using as test component electronic lamps , simulating the behavior of systems where these components are inserted and apply on them controlled loads and stresses to estimate the average lifetime under normal conditions of use. To increase the data reliability that will be collected an automatic electronic didactic bench will be developed , it will simulate the component's operation and identify the exact time of the crash reducing measurement errors during the trial period. Data collection was successful, the bench and the environment simulation device played its function as designed some improvements were identified during the data collection process, as the result of the analysis, this suffered interference outliers suggest improvements in the data collection process in order to minimize these impacts in future trials and improve the outcome of the experiment.porUniversidade Tecnológica Federal do ParanáCuritibaEspecialização em Engenharia da ConfiabilidadeUTFPRBrasilCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE PRODUCAOConfiabilidade (Engenharia)Vida útil (Engenharia)Lâmpadas fluorescentesMétodos de simulaçãoReliability (Engineering)Service life (Engineering)Fluorescent lampsSimulation methodsEnsaios acelerados em lâmpadas fluorescentes compactasinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/bachelorThesisCuritibaRigoni, EmersonRigoni, EmersonRigoni, EmersonRigoni, EmersonSouza, Nilson José deinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UTFPR (da Universidade Tecnológica Federal do Paraná (RIUT))instname:Universidade Tecnológica Federal do Paraná (UTFPR)instacron:UTFPRORIGINALCT_CEEC_II_2013_13.pdfapplication/pdf994238http://repositorio.utfpr.edu.br:8080/jspui/bitstream/1/18667/1/CT_CEEC_II_2013_13.pdf3dffdc48f7fd43c6abd98c5e79c3d7a3MD51LICENSElicense.txttext/plain1290http://repositorio.utfpr.edu.br:8080/jspui/bitstream/1/18667/2/license.txtb9d82215ab23456fa2d8b49c5df1b95bMD52TEXTCT_CEEC_II_2013_13.pdf.txtExtracted texttext/plain30564http://repositorio.utfpr.edu.br:8080/jspui/bitstream/1/18667/3/CT_CEEC_II_2013_13.pdf.txt3c864f36d5b0795c1b1e6c503070aedeMD53THUMBNAILCT_CEEC_II_2013_13.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1220http://repositorio.utfpr.edu.br:8080/jspui/bitstream/1/18667/4/CT_CEEC_II_2013_13.pdf.jpgc39b19f2d2153d86bc9b23abf4e3a61aMD541/186672020-11-23 09:59:12.386oai:repositorio.utfpr.edu.br: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ório de PublicaçõesPUBhttp://repositorio.utfpr.edu.br:8080/oai/requestopendoar:2020-11-23T11:59:12Repositório Institucional da UTFPR (da Universidade Tecnológica Federal do Paraná (RIUT)) - Universidade Tecnológica Federal do Paraná (UTFPR)false |
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