Microscopia de varredura por sonda (SPM) aplicada a aços inoxidáveis dúplex

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Santos,Fabricio Simão dos
Data de Publicação: 2007
Outros Autores: Gheno,Simoni Maria, Kuri,Sebastião Elias
Tipo de documento: Artigo
Idioma: por
Título da fonte: REM. Revista Escola de Minas (Online)
Texto Completo: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0370-44672007000100028
Resumo: Nesse trabalho, a microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy - SPM), nos modos contato (Atomic Force Microscopy - AFM) e de força magnética (Magnetic Force Microscopy - MFM), foi utilizada para analisar a microestrutura de um aço inoxidável dúplex 2205 solubilizado e envelhecido. Foi feita uma análise por AFM da superfície do aço solubilizado após crescimento de filme passivo. Por AFM, obteve-se indicação de crescimento de filme sobre a microestrutura do aço solubilizado, enquanto por MFM a distribuição de fases pôde ser observada sem a necessidade de ataque da superfície.
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