Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: SCAPIN, V.O.
Data de Publicação: 2014
Outros Autores: SCAPIN, M.A., SALVADOR, V.L.R., LIMA, N.B., MITANI, S.E., SAMAD, R.E., INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th
Tipo de documento: Artigo de conferência
Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
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