Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristaisde YLFCaracterização de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2005 |
Outros Autores: | , |
Tipo de documento: | Artigo |
Texto Completo: | http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/5469 |
id |
IPEN_8d6fdf7ac4b267838710b2af5ca26ee7 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.ipen.br:123456789/5469 |
network_name_str |
Repositório Institucional do IPEN |
title |
Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristaisde YLFCaracterização de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF |
author |
SOUSA, EDUARDO C. |
author2 |
RANIERI, IZILDA M. WETTER, NIKLAUS U. |
topic |
solid state lasers thin films antireflection coatings |
publishDate |
2005 |
format |
article |
url |
http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/5469 |
instname_str |
Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) |
instacron_str |
IPEN |