Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristaisde YLFCaracterização de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: SOUSA, EDUARDO C.
Data de Publicação: 2005
Outros Autores: RANIERI, IZILDA M., WETTER, NIKLAUS U.
Tipo de documento: Artigo
Texto Completo: http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/5469
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author SOUSA, EDUARDO C.
author2 RANIERI, IZILDA M.
WETTER, NIKLAUS U.
topic solid state lasers
thin films
antireflection coatings
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