Referência de acordo com a norma APA

CARRIEL, R., PILLIS, M., & CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 2. (2015). Comportamento voltamétrico de filmes finos de TiOsub(2) depositados sobre silício.

Referência de acordo com a norma Chicago

CARRIEL, R.C., M.F PILLIS, e 21 CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS. Comportamento Voltamétrico De Filmes Finos De TiOsub(2) Depositados Sobre Silício. 2015.

Referência de acordo com a norma MLA

CARRIEL, R.C., M.F PILLIS, e 21 CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS. Comportamento Voltamétrico De Filmes Finos De TiOsub(2) Depositados Sobre Silício. 2015.

Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma, para gerenciar as citações recomenda-se a utilização do software Zotero , que permite o upload automático das referências do Oasisbr.