Avalia????o da uniformidade de fonte extensa de refer??ncia circular e aplica????o de fatores de corre????o

• Autor(a) principal: SILVA JUNIOR, I.A.
• Data de Publicação: 2018
• Outros Autores: XAVIER, M., SIQUEIRA, P.T.D., SORDI, G.A.A., POTIENS, M.P.A., CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIA??OES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2.
• Tipo de documento: Artigo de conferência
• Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
• Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28586

Neste trabalho ?? avaliada a uniformidade de fontes extensas de refer??ncia circular, que ainda s??o bastante utilizadas no Brasil. Em trabalhos anteriores foram analisadas fontes extensas de refer??ncia retangular mostrando-se a import??ncia da aplica????o de fatores de corre????o na calibra????o de monitores de radia????o. Agora ?? realizada uma transposi????o de m??todos usados ent??o, avaliando-se as uniformidades de fontes de refer??ncia circular e calculando-se os fatores de corre????o associados.