Sistema para caracterização de circuitos ópticos a fibras altamente birrefringentes
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 1995 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA |
Texto Completo: | http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1664 |
Resumo: | Em sistemas a fibras opticas onde a manutencao do estado de polarizacao linear da luz e primordial para o alto nivel de performance exigido, torna-se necessario caracterizar o circuito optico com relacao a imperfeicoes que causam acoplamento entre os modos proprios de polarizacao da fibra altamente birrefringente utilizada. Tais imperfeicoes sao em geral devidas as emendas, curvaturas da fibra, forcas externas, ou aos componentes inseridos ao longo do circuito optico e que deterioram a performance do sistema. Desenvolveu-se um instrumento de analise e caracterizacao de tais circuitos opticos, capaz de localizar tais imperfeicoes ao longo do circuito optico. O instrumento e essencialmente um interferometro de Michelson que permite realizar uma filtragem espacial aumentando sensivelmente a faixa dinamica do instrumento no diagnostico de imperfeicoes localizadas. Os resultados experimentais mostraram que o instrumento alcancou uma faixa dinamica de 53dB e que portanto podemos localizar imperfeicoes que causam acoplamento entre modos proprios de polarizacao correspondentes a um desalinhamento angular entre eixos de fibras altamente birrefringentes de 0.12 graus. |
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Sistema para caracterização de circuitos ópticos a fibras altamente birrefringentesDispositivos ópticosFibras ópticasBirrefringênciaÓpticaFísicaEm sistemas a fibras opticas onde a manutencao do estado de polarizacao linear da luz e primordial para o alto nivel de performance exigido, torna-se necessario caracterizar o circuito optico com relacao a imperfeicoes que causam acoplamento entre os modos proprios de polarizacao da fibra altamente birrefringente utilizada. Tais imperfeicoes sao em geral devidas as emendas, curvaturas da fibra, forcas externas, ou aos componentes inseridos ao longo do circuito optico e que deterioram a performance do sistema. Desenvolveu-se um instrumento de analise e caracterizacao de tais circuitos opticos, capaz de localizar tais imperfeicoes ao longo do circuito optico. O instrumento e essencialmente um interferometro de Michelson que permite realizar uma filtragem espacial aumentando sensivelmente a faixa dinamica do instrumento no diagnostico de imperfeicoes localizadas. Os resultados experimentais mostraram que o instrumento alcancou uma faixa dinamica de 53dB e que portanto podemos localizar imperfeicoes que causam acoplamento entre modos proprios de polarizacao correspondentes a um desalinhamento angular entre eixos de fibras altamente birrefringentes de 0.12 graus.Instituto Tecnológico de AeronáuticaSidney Luiz Alessi CarraraAndréz Pablo López Barbero1995-01-01info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesishttp://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1664reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITAinstname:Instituto Tecnológico de Aeronáuticainstacron:ITAporinfo:eu-repo/semantics/openAccessapplication/pdf2019-02-02T14:02:46Zoai:agregador.ibict.br.BDTD_ITA:oai:ita.br:1664http://oai.bdtd.ibict.br/requestopendoar:null2020-05-28 19:36:58.884Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA - Instituto Tecnológico de Aeronáuticatrue |
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