Aplicação das tomografias computadorizadas de Raios-X e Gama na análise de Solo Simulado

• Autor(a) principal: FONSECA, Alexandra Carolina Gomes da
• Data de Publicação: 2017
• Tipo de documento: Tese
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFPE
• Texto Completo: https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/27600
• topic: Tomografia de Raios-X; Tomografia de Raios Gama; Fantom do solo

A aplicação das duas tomografias teve como objetivo o estudo do comportamento do feixe de Raios – X em um fantom de solo tropical, após a filtração adicional e operando em intervalos de tensões entre 100 kV a 225kV. Para esse estudo foram utilizadas duas metodologias amplamente difundidas, que formaram uma metodologia única para a caracterização de materiais minerais do solo. Os equipamentos utilizados foram um micro - CT de Raios – X e um tomógrafo industrial de Raios Gama. Além da parte experimental, o estudo contou com uma fase simulada com os softwares XCOM e SpekCalC, essa fase foi de suma importância porque serviu de referência para as análises dos dados com as duas tomografias. As medições para avaliação da qualidade do feixe foram realizadas com software SpekCalC, as mesmas foram realizadas utilizando os mesmos parâmetros da fase de medidas do tomógrafo de Raios – X, os dados de saída analisados foram camada semi-redutora, energia média, energia efetiva e coeficiente de homogeneidade. Com o tomógrafo de Raios gama foi encontrado dado de intensidade relativa para os materiais puros, e a partir deles foram obtidos os valores de coeficiente de atenuação e densidade dos materiais. Com a técnica de atenuação de Raios – X foram realizadas medidas no fantom do solo e obtidos valores da atenuação de Hounsfield. A junção das metodologias mostrou que a boa resolução de densidade da tomografia de Raios gama foi de suma importância ao longo do estudo, porque indicou as melhorias da fase de construção do fantom, além de indicar os ajustes necessários para fase de medidas. Além da boa resolução temporal e espacial da tomografia de Raios – X, que detém um menor tempo de escaneamento e uma capacidade maior de detalhamento de materiais com dimensões muito pequenas ou particuladas (como os minerais utilizados) devido a sua resolução espacial.