Erigson, M. I. (2004). Escalonamento de testes em uma rede intra-chip para teste de sistemas em silício.
Referência de acordo com a norma ChicagoErigson, Marcelo Ienczczak. Escalonamento De Testes Em Uma Rede Intra-chip Para Teste De Sistemas Em Silício. 2004.
Referência de acordo com a norma MLAErigson, Marcelo Ienczczak. Escalonamento De Testes Em Uma Rede Intra-chip Para Teste De Sistemas Em Silício. 2004.
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