Escalonamento de testes em uma rede intra-chip para teste de sistemas em silício

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Erigson, Marcelo Ienczczak
Data de Publicação: 2004
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/61229
Resumo: 268
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