Magnetic force microscopy with dual-tips

• Autor(a) principal: Puglia, Denise
• Data de Publicação: 2017
• Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
• Idioma: eng
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/157284
• topic: Magnetismo; Nanoestruturas; Microscopia eletrônica; Magnetic force microscopy; Dual-tip; Nanostructures

Caracterização de elementos nanomagnéticos em alta resolução foi explorado por um novo método. A Microscopia de Força Magnética de Dupla Ponta é uma técnica de varredura em duas passagens que emprega pontas duplas - uma magnética e outra não magnética - para explorar de forma independente a topografia e o campo desmagnetizante de estruturas magnéticas macias sem perturbar seu estado. Sondas de nitreto de silício foram adaptadas por Feixe de Ion Focalizado e revestidas com Permalloy por Magnetron Sputtering. Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), Magnetometria Vibracional e Microscopia de Força Atômica foram empregadas para a caracterização morfológica, magnética e in-operando das pontas. Sondas de nitreto de silício sem falhas tornaram-se pontas de alta qualidade com desempenho igual ou superior ao das sondas comerciais MESP. Nanohills de cobalto foram analisados com pontas duais e convencionais. Essas apresentaram melhor resolução espacial que imagens de Microscopia Eletrônica de Varredura, enquanto aquelas apresentaram sinais magnéticos e topográficos misturados devido a defeitos de fabricação. Nanoanéis de permalloy foram analisados por pontas convencionais e duais. A imagem topográfica revelou que a superfície dos anéis é plana e recoberta com partículas arredondadas. O sinal magnético obtido pela pontas convencionais indicou uma magnetização desigual entre lados opostos do anel, mas não revelou informações quanto ao campo desmagnetizante da superfície do anel. Já as pontas duais evidenciaram que a amostra está no estado de vórtice remanente, com uma magnetização desigual entre lados opostos do anel e com uma maior magnetização nas bordas do anel. As perspectivas desse trabalho incluem a fabricação de pontas convencionais e duais e a implementação de um sistema para realizar Microscopia de Força Magnética com campo magnético externo variável.