Measurement of the Bs0 lifetime using semileptonic decays

• Autor(a) principal: Abazov, V. M.
• Data de Publicação: 2006
• Outros Autores: Abbott, B., Abolins, M., Acharya, B. S., Adams, M., Adams, T., Agelou, M., Agram, J. L., Ahn, S. H., Ahsan, M., Alexeev, G. D., Alkhazov, G., Alton, A., Alverson, G., Alves, G. A., Anastasoaie, M., Andeen, T., Anderson, S., Andrieu, B., Anzelc, M. S., Arnoud, Y., Arov, M., Askew, A., Åsman, B., Assis Jesus, A. C.S., Atramentov, O., Autermann, C., Avila, C., Ay, C., Badaud, F., Baden, A., Bagby, L., Baldin, B., Bandurin, D. V., Banerjee, P., Banerjee, S., Barberis, E., Bargassa, P., Baringer, P., Barnes, C., Barreto, J., Bartlett, J. F., Bassler, U., Bauer, D., Bean, A., Begalli, M., Begel, M., Belanger-Champagne, C., Bellavance, A., Benitez, J. A., Beri, S. B., Bernardi, G., Bernhard, R., Berntzon, L., Bertram, I., Besançon, M., Beuselinck, R., Bezzubov, V. A., Bhat, P. C., Bhatnagar, V., Binder, M., Biscarat, C., Black, K. M., Blackler, I., Blazey, G., Blekman, F., Blessing, S., Bloch, D., Bloom, K., Blumenschein, U., Boehnlein, A., Boeriu, O., Bolton, T. A., Borcherding, F., Borissov, G., Bos, K., Bose, T., Brandt, A., Brock, R., Brooijmans, G., Bross, A., Brown, D., Buchanan, N. J., Buchholz, D., Buehler, M., Buescher, V., Burdin, S., Burke, S., Burnett, T. H., Busato, E., Buszello, C. P., Butler, J. M., Calvet, S., Cammin, J., Caron, S., Carrasco-Lizarraga, M. A., Carvalho, W., Casey, B. C.K., Cason, N. M., Castilla-Valdez, H., Chakrabarti, S., Chakraborty, D., Chan, K. M., Chandra, A., Chapin, D., Charles, F., Cheu, E., Chevallier, F., Cho, D. K., Choi, S., Choudhary, B., Christofek, L., Claes, D., Clément, B., Clément, C., Coadou, Y., Cooke, M., Cooper, W. E., Coppage, D., Corcoran, M., Cousinou, M. C., Cox, B., Crépé-Renaudin, S., Cutts, D., Ćwiok, M., da Motta, H., Das, A., Das, M., Davies, B., Davies, G., Davis, G. A., De, K., de Jong, P., de Jong, S. J., de La Cruz-Burelo, E., de Oliveira Martins, C., Degenhardt, J. D., Déliot, F., Demarteau, M., Demina, R., Demine, P., Denisov, D., Denisov, S. P., Desai, S., Diehl, H. 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J., Haefner, P., Hagopian, S., Haley, J., Hall, I., Hall, R. E., Han, L., Hanagaki, K., Harder, K., Harel, A., Harrington, R., Hauptman, J. M., Hauser, R., Hays, J., Hebbeker, T., Hedin, D., Hegeman, J. G., Heinmiller, J. M., Heinson, A. P., Heintz, U., Hensel, C., Hesketh, G., Hildreth, M. D., Hirosky, R., Hobbs, J. D., Hoeneisen, B., Hohlfeld, M., Hong, S. J., Hooper, R., Houben, P., Hu, Y., Hynek, V., Iashvili, I., Illingworth, R., Ito, A. S., Jabeen, S., Jaffré, M., Jain, S., Jakobs, K., Jarvis, C., Jenkins, A., Jesik, R., Johns, K., Johnson, C., Johnson, M., Jonckheere, A., Jonsson, P., Juste, A., Käfer, D., Kahn, S., Kajfasz, E., Kalinin, A. M., Kalk, J. M., Kalk, J. R., Kappler, S., Karmanov, D., Kasper, J., Katsanos, I., Kau, D., Kaur, R., Kehoe, R., Kermiche, S., Kesisoglou, S., Khanov, A., Kharchilava, A., Kharzheev, Y. M., Khatidze, D., Kim, H., Kim, T. J., Kirby, M. H., Klima, B., Kohli, J. M., Konrath, J. P., Kopal, M., Korablev, V. 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• Tipo de documento: Artigo
• Idioma: eng
• Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
• Texto Completo: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.97.241801; http://hdl.handle.net/11449/224845

We report a measurement of the Bs0 lifetime in the semileptonic decay channel Bs0→Ds-μ+νX (and its charge conjugate), using approximately 0.4fb-1 of data collected with the D0 detector during 2002-2004. Using 5176 reconstructed Ds-μ+ signal events, we have measured the Bs0 lifetime to be τ(Bs0)=1.398±0.044(stat)-0.025+0.028(syst)ps. This is the most precise measurement of the Bs0 lifetime to date. © 2006 The American Physical Society.