Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2017 |
Tipo de documento: | Tese |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10183/172094 |
Resumo: | A determinação experiemntal da seção de choque de produção de raios X induzida por feixe de íons tem sido objeto de vários trabalhos nas últimas décadas, tendo em vista que este é um dos principais fatores que afetam a quantificação composicional de uma análise PIXE baseada em parâmetro fundamentais ( standardless). Compilações recentes de dados indicam a necessidade de um maior número de medidas experimentais das seções de choque de produção de raios X das várias camadas eletrônicas e com incidência de prótons e partículas alfa, dos coeficientes de fluorescência, Coster-Kronig e frações de intensidade de linhas. Avanços tecnológicos e computacionais permitem a atualização destas bases de dados, facilitama revisão da literatura, a comparação entre trabalhos e abordagens mais refinadas de parâmetros até o momento negligenciados. Por exemplo, a produção de filmes homgêneos ultrafinos (da ordem de alguns nm), que satisfazem as aproximações necessárias para obtenção experimental de parâmetros atômicos; a produção de detectores Si(Li) sem região inativa de detecção (dead layer); o desenvolvimento de códigos de ajuste para uso em computadores pessoais, que tenham a capacidade de ajuste de muitas linhas simultâneas com funções não-analíticas, e que levam em conta fenômenos físicos de processo de detecção. Este trabalho se utilizou desses avanços, tendo como objetivo principal a determinação experimental de seções de choque de produção de raios X das camadas eletrônicas K e L pela incidência de prótons e partículas alfa, para elementos selecionados. Os resultados obtidos contribuíram para preencher lacunas observadas nas bases de dados experimentais bem como propor valores de coeficientes de flourescência que permitiram maior concordância dos dados com os modelos teóricos Com o detalhamento da função resposta do detector, que passou a levar em conta a coleção incompleta de cargas no detector, foi possível constatar os efeitos de ionização múltipla dos átomos da amostra. Embora a importância desse efeito em PIXE seja reconhecida na literatura, ele é raramente percebido com detectores de Si(Li). A aplicação de parâmetros fundamentais em análises PIXe standardless foi estudada relacionando a concentração de elementos traço com a cor de amostras de opala do RS. |
id |
URGS_c60263e5cbf98549b33e27180251831b |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:www.lume.ufrgs.br:10183/172094 |
network_acronym_str |
URGS |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
repository_id_str |
1853 |
spelling |
Bertol, Ana Paula LambertiVasconcellos, Marcos Antonio ZenHinrichs, Ruth2018-01-23T02:24:01Z2017http://hdl.handle.net/10183/172094001056253A determinação experiemntal da seção de choque de produção de raios X induzida por feixe de íons tem sido objeto de vários trabalhos nas últimas décadas, tendo em vista que este é um dos principais fatores que afetam a quantificação composicional de uma análise PIXE baseada em parâmetro fundamentais ( standardless). Compilações recentes de dados indicam a necessidade de um maior número de medidas experimentais das seções de choque de produção de raios X das várias camadas eletrônicas e com incidência de prótons e partículas alfa, dos coeficientes de fluorescência, Coster-Kronig e frações de intensidade de linhas. Avanços tecnológicos e computacionais permitem a atualização destas bases de dados, facilitama revisão da literatura, a comparação entre trabalhos e abordagens mais refinadas de parâmetros até o momento negligenciados. Por exemplo, a produção de filmes homgêneos ultrafinos (da ordem de alguns nm), que satisfazem as aproximações necessárias para obtenção experimental de parâmetros atômicos; a produção de detectores Si(Li) sem região inativa de detecção (dead layer); o desenvolvimento de códigos de ajuste para uso em computadores pessoais, que tenham a capacidade de ajuste de muitas linhas simultâneas com funções não-analíticas, e que levam em conta fenômenos físicos de processo de detecção. Este trabalho se utilizou desses avanços, tendo como objetivo principal a determinação experimental de seções de choque de produção de raios X das camadas eletrônicas K e L pela incidência de prótons e partículas alfa, para elementos selecionados. Os resultados obtidos contribuíram para preencher lacunas observadas nas bases de dados experimentais bem como propor valores de coeficientes de flourescência que permitiram maior concordância dos dados com os modelos teóricos Com o detalhamento da função resposta do detector, que passou a levar em conta a coleção incompleta de cargas no detector, foi possível constatar os efeitos de ionização múltipla dos átomos da amostra. Embora a importância desse efeito em PIXE seja reconhecida na literatura, ele é raramente percebido com detectores de Si(Li). A aplicação de parâmetros fundamentais em análises PIXe standardless foi estudada relacionando a concentração de elementos traço com a cor de amostras de opala do RS.application/pdfporEmissão de raios-x induzida por partículasEspectrometria de retroespalhamento rutherfordIonizaçãoFilmes finosDeterminação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículasinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de FísicaPrograma de Pós-Graduação em FísicaPorto Alegre, BR-RS2017doutoradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL001056253.pdf001056253.pdfTexto completoapplication/pdf27657132http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/172094/1/001056253.pdf18a533d6d1bcc2fa5daf8228eeef2d25MD51TEXT001056253.pdf.txt001056253.pdf.txtExtracted Texttext/plain356716http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/172094/2/001056253.pdf.txtdc15ce355545145bf1d96b350c5ff897MD52THUMBNAIL001056253.pdf.jpg001056253.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg967http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/172094/3/001056253.pdf.jpg8f7554900773a655b4aba2d500a8a8e3MD5310183/1720942018-10-23 09:30:33.944oai:www.lume.ufrgs.br:10183/172094Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-23T12:30:33Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
title |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
spellingShingle |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas Bertol, Ana Paula Lamberti Emissão de raios-x induzida por partículas Espectrometria de retroespalhamento rutherford Ionização Filmes finos |
title_short |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
title_full |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
title_fullStr |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
title_full_unstemmed |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
title_sort |
Determinação experimental de parâmetros atômicos associados à emissão de raios X induzida por partículas |
author |
Bertol, Ana Paula Lamberti |
author_facet |
Bertol, Ana Paula Lamberti |
author_role |
author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Bertol, Ana Paula Lamberti |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Vasconcellos, Marcos Antonio Zen |
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv |
Hinrichs, Ruth |
contributor_str_mv |
Vasconcellos, Marcos Antonio Zen Hinrichs, Ruth |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Emissão de raios-x induzida por partículas Espectrometria de retroespalhamento rutherford Ionização Filmes finos |
topic |
Emissão de raios-x induzida por partículas Espectrometria de retroespalhamento rutherford Ionização Filmes finos |
description |
A determinação experiemntal da seção de choque de produção de raios X induzida por feixe de íons tem sido objeto de vários trabalhos nas últimas décadas, tendo em vista que este é um dos principais fatores que afetam a quantificação composicional de uma análise PIXE baseada em parâmetro fundamentais ( standardless). Compilações recentes de dados indicam a necessidade de um maior número de medidas experimentais das seções de choque de produção de raios X das várias camadas eletrônicas e com incidência de prótons e partículas alfa, dos coeficientes de fluorescência, Coster-Kronig e frações de intensidade de linhas. Avanços tecnológicos e computacionais permitem a atualização destas bases de dados, facilitama revisão da literatura, a comparação entre trabalhos e abordagens mais refinadas de parâmetros até o momento negligenciados. Por exemplo, a produção de filmes homgêneos ultrafinos (da ordem de alguns nm), que satisfazem as aproximações necessárias para obtenção experimental de parâmetros atômicos; a produção de detectores Si(Li) sem região inativa de detecção (dead layer); o desenvolvimento de códigos de ajuste para uso em computadores pessoais, que tenham a capacidade de ajuste de muitas linhas simultâneas com funções não-analíticas, e que levam em conta fenômenos físicos de processo de detecção. Este trabalho se utilizou desses avanços, tendo como objetivo principal a determinação experimental de seções de choque de produção de raios X das camadas eletrônicas K e L pela incidência de prótons e partículas alfa, para elementos selecionados. Os resultados obtidos contribuíram para preencher lacunas observadas nas bases de dados experimentais bem como propor valores de coeficientes de flourescência que permitiram maior concordância dos dados com os modelos teóricos Com o detalhamento da função resposta do detector, que passou a levar em conta a coleção incompleta de cargas no detector, foi possível constatar os efeitos de ionização múltipla dos átomos da amostra. Embora a importância desse efeito em PIXE seja reconhecida na literatura, ele é raramente percebido com detectores de Si(Li). A aplicação de parâmetros fundamentais em análises PIXe standardless foi estudada relacionando a concentração de elementos traço com a cor de amostras de opala do RS. |
publishDate |
2017 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2017 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2018-01-23T02:24:01Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
format |
doctoralThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/10183/172094 |
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv |
001056253 |
url |
http://hdl.handle.net/10183/172094 |
identifier_str_mv |
001056253 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) instacron:UFRGS |
instname_str |
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) |
instacron_str |
UFRGS |
institution |
UFRGS |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/172094/1/001056253.pdf http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/172094/2/001056253.pdf.txt http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/172094/3/001056253.pdf.jpg |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
18a533d6d1bcc2fa5daf8228eeef2d25 dc15ce355545145bf1d96b350c5ff897 8f7554900773a655b4aba2d500a8a8e3 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) |
repository.mail.fl_str_mv |
lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br |
_version_ |
1797064669438935040 |