Referência de acordo com a norma APA

Guimaraes, S. (1983). Desenvolvimento da técnica elipsométrica para caracterização ótica de filmes finos.

Referência de acordo com a norma Chicago

Guimaraes, Sonia. Desenvolvimento Da Técnica Elipsométrica Para Caracterização ótica De Filmes Finos. 1983.

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Guimaraes, Sonia. Desenvolvimento Da Técnica Elipsométrica Para Caracterização ótica De Filmes Finos. 1983.

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