Guimaraes, S. (1983). Desenvolvimento da técnica elipsométrica para caracterização ótica de filmes finos.
Referência de acordo com a norma ChicagoGuimaraes, Sonia. Desenvolvimento Da Técnica Elipsométrica Para Caracterização ótica De Filmes Finos. 1983.
Referência de acordo com a norma MLAGuimaraes, Sonia. Desenvolvimento Da Técnica Elipsométrica Para Caracterização ótica De Filmes Finos. 1983.
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