Vocabulário Internacional de Metrologia: conceitos fundamentais e gerais e termos associados (VIM 2008)
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2009 |
Tipo de documento: | Livro |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional do INMETRO |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10926/290 |
Resumo: | O VIM surge no contexto da metrologia mundial da segunda metade do século XX como uma resposta e uma fuga à síndrome de Babel: busca a harmonização internacional das terminologias e definições utilizadas nos campos da metrologia e da instrumentação. São desse período três importantes documentos normativos cuja ampla aceitação contribuiu sobremaneira para a harmonização dos procedimentos e da expressão dos resultados no mundo da medição. São eles o VIM, o GUM (Guia para a Expressão da Incerteza de Medição - 3a edição brasileira em língua portuguesa, 2003) e, mais recentemente, a norma ABNT NBR ISO/IEC 17025:2005. A adoção destes documentos auxilia a evolução e a dinâmica do processo de globalização das sociedades tecnológicas e contribui para uma maior integração dos mercados, com uma conseqüente redução geral de custos. No que se refere ao interesse particular de cada país, isso pode alavancar uma maior participação no mercado mundial e nos mercados regionais. Na elaboração desta versão, mais que uma transcrição literal, buscou-se o objetivo primordial de captar e transpor para o português os significados mais profundos dos conceitos. Visando facilitar a compreensão daqueles que se valerão da presente versão, procurou-se garantir que a rigorosa exegese dos termos viesse acompanhada também pela clareza e fluência do texto. Na transposição dos termos escolheu-se, dentre as diversas opções aventadas e discutidas, aquela que, ademais de parecer adequada segundo seu uso na linguagem comum, guardasse também uma semelhança fonética ou morfológica com o termo inglês original. Não é demais lembrar que isso nem sempre foi possível, pelo menos no âmbito da capacidade e do esforço empenhados pela equipe. Em alguns casos tornou-se imperativo inclusive o recurso ao uso de neologismos, como o adjetivo definicional, usado como qualificativo em ―incerteza definicional. Quando apropriado foi mantida compatibilidade com a tradução brasileira da 2a edição internacional do VIM. Para ampliar a utilização deste documento no âmbito do Sistema Interamericano de Metrologia (SIM) foram incluídos, abaixo dos termos em português, os correspondentes termos originais em inglês e francês, assim como em espanhol da tradução feita pelo Centro Español de Metrología (CEM). No final do texto deste nosso documento, além do português, foram incluídos os índices alfabéticos em inglês, francês e espanhol. Os termos em negrito são os termos preferenciais para utilização. Estas inclusões foram autorizadas pelo Diretor do BIPM. A disseminação da cultura metrológica no país constitui-se em uma das mais importantes missões do Inmetro e, nesse sentido, alguns de seus técnicos e pesquisadores dedicaram cerca de oito meses de trabalho e muita discussão para que o público brasileiro ligado à Metrologia e aos diversos ramos da Ciência possa ter acesso ao VIM na sua língua nativa, mas sem incorrer em desvantagem em relação àqueles que dominam a língua inglesa. O resultado deste trabalho estará aberto ao crivo crítico da comunidade metrológica brasileira, que poderá julgar seus méritos e seus defeitos, podendo contribuir futuramente para sanar as imperfeições que certamente serão identificadas. Algumas dessas imperfeições poderão ser imputadas ao próprio texto original; outras, certamente, a nós mesmos – os tradutores. Este documento está disponível, gratuitamente, no sítio do INMETRO www.inmetro.gov.br/VIM3-2008. |
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A adoção destes documentos auxilia a evolução e a dinâmica do processo de globalização das sociedades tecnológicas e contribui para uma maior integração dos mercados, com uma conseqüente redução geral de custos. No que se refere ao interesse particular de cada país, isso pode alavancar uma maior participação no mercado mundial e nos mercados regionais. Na elaboração desta versão, mais que uma transcrição literal, buscou-se o objetivo primordial de captar e transpor para o português os significados mais profundos dos conceitos. Visando facilitar a compreensão daqueles que se valerão da presente versão, procurou-se garantir que a rigorosa exegese dos termos viesse acompanhada também pela clareza e fluência do texto. Na transposição dos termos escolheu-se, dentre as diversas opções aventadas e discutidas, aquela que, ademais de parecer adequada segundo seu uso na linguagem comum, guardasse também uma semelhança fonética ou morfológica com o termo inglês original. Não é demais lembrar que isso nem sempre foi possível, pelo menos no âmbito da capacidade e do esforço empenhados pela equipe. Em alguns casos tornou-se imperativo inclusive o recurso ao uso de neologismos, como o adjetivo definicional, usado como qualificativo em ―incerteza definicional. Quando apropriado foi mantida compatibilidade com a tradução brasileira da 2a edição internacional do VIM. Para ampliar a utilização deste documento no âmbito do Sistema Interamericano de Metrologia (SIM) foram incluídos, abaixo dos termos em português, os correspondentes termos originais em inglês e francês, assim como em espanhol da tradução feita pelo Centro Español de Metrología (CEM). No final do texto deste nosso documento, além do português, foram incluídos os índices alfabéticos em inglês, francês e espanhol. Os termos em negrito são os termos preferenciais para utilização. Estas inclusões foram autorizadas pelo Diretor do BIPM. A disseminação da cultura metrológica no país constitui-se em uma das mais importantes missões do Inmetro e, nesse sentido, alguns de seus técnicos e pesquisadores dedicaram cerca de oito meses de trabalho e muita discussão para que o público brasileiro ligado à Metrologia e aos diversos ramos da Ciência possa ter acesso ao VIM na sua língua nativa, mas sem incorrer em desvantagem em relação àqueles que dominam a língua inglesa. O resultado deste trabalho estará aberto ao crivo crítico da comunidade metrológica brasileira, que poderá julgar seus méritos e seus defeitos, podendo contribuir futuramente para sanar as imperfeições que certamente serão identificadas. Algumas dessas imperfeições poderão ser imputadas ao próprio texto original; outras, certamente, a nós mesmos – os tradutores. Este documento está disponível, gratuitamente, no sítio do INMETRO www.inmetro.gov.br/VIM3-2008.77 p. : il.Submitted by Catarina Soares (cfsoares@inmetro.gov.br) on 2010-08-26T18:03:37Z No. of bitstreams: 1 2008_vim_completo.pdf: 2119969 bytes, checksum: 7060d37de87727b76be17bc1d33c456a (MD5)Approved for entry into archive by Catarina Soares(cfsoares@inmetro.gov.br) on 2010-08-26T18:04:40Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2008_vim_completo.pdf: 2119969 bytes, checksum: 7060d37de87727b76be17bc1d33c456a (MD5)Made available in DSpace on 2010-08-26T18:04:40Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2008_vim_completo.pdf: 2119969 bytes, checksum: 7060d37de87727b76be17bc1d33c456a (MD5) Previous issue date: 2008porhttp://hdl.handle.net/10926/290DMD_hdl_10926/290INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA; OLIVEIRA, José Carlos Valente de Oliveira (coord.). Vocabulário Internacional de Metrologia: conceitos fundamentais e gerais e termos associados. Rio de Janeiro: Inmetro, 2009.Inmetro, Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologiainfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional do INMETROinstname:Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO)instacron:INMETROConteudo_VIM_2008.pdfhttp://xrepo01s.inmetro.gov.br/bitstream/10926/290/6/Conteudo_VIM_2008.pdfapplication/pdf4452967http://xrepo01s.inmetro.gov.br/bitstream/10926/290/6/Conteudo_VIM_2008.pdf4ee95dfaffc4455e5cf39ef51d5734abMD510926_290_6Conteudo_VIM_2008.pdf.txthttp://xrepo01s.inmetro.gov.br/bitstream/10926/290/7/Conteudo_VIM_2008.pdf.txttext/plain189232http://xrepo01s.inmetro.gov.br/bitstream/10926/290/7/Conteudo_VIM_2008.pdf.txt490a794dc59347e69f2c978fcba95ebeMD510926_290_72024-04-22T15:42:39Zoai:xrepo01s.inmetro.gov.br:10926/290Repositório de Publicaçõeshttp://repositorios.inmetro.gov.br/oai/requestopendoar:2012-03-28T14:50:56Repositório Institucional do INMETRO - Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO)false |
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