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1
A differential mechanical profilometer for thickness measurement
por
Alves, J. Maia
Publicado em 2004
Outros Autores:
“
...
Serra
,
J
.
M
....
”
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Artigo
2
Measurement of residual stress in multicrystalline silicon ribbons by a self-calibrating infrared photoelastic method
por
Brito, M. C.
Publicado em 2004
Outros Autores:
“
...
Serra
,
J
.
M
....
”
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Artigo
3
Microstructure and electrochemical properties of a LaMgAlMnCoNi based alloy for Ni/MH batteries
por
FERREIRA, E.A.
Publicado em 2014
Outros Autores:
“
...
SERRA
,
J.M
....
”
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