Estudo do Comportamento da Corrente de Fuga em Transistores de Portas Circulares SOI MOSFET operando em altas temperaturas

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Luciano Mendes Almeida
Data de Publicação: 2007
Tipo de documento: Dissertação
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
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