ESTIMATIVA DA INCERTEZA DE MEDIÇÃO DE UM SISTEMA UTILIZADO PARA CARACTERIZAÇÃO ELETRÔNICA DE MATERIAIS SEMICONDUTORES
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Data de Publicação: | 2015 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Título da fonte: | Portal de Dados Abertos da CAPES |
Texto Completo: | https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=2808288 |
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