Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício

Detalhes bibliográficos
Data de Publicação: 1998
Tipo de documento: Tese
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
id BRCRIS_860dcbaee4a204463ece1bfc59ddfb28
network_acronym_str CAPES
network_name_str Portal de Dados Abertos da CAPES
dc.title.pt-BR.fl_str_mv Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
title Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
spellingShingle Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
title_short Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
title_full Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
title_fullStr Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
title_full_unstemmed Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
title_sort Estudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício
publishDate 1998
format doctoralThesis
author_role author
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Alfredo Gontijo de Oliveira
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/5109370460506400
dc.publisher.none.fl_str_mv UNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAIS
publisher.none.fl_str_mv UNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAIS
instname_str UNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAIS
reponame_str Portal de Dados Abertos da CAPES
collection Portal de Dados Abertos da CAPES
spelling CAPESPortal de Dados Abertos da CAPESEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de SilícioEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de SilícioEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de SilícioEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de SilícioEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de SilícioEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de SilícioEstudo do Defeito Tipo El2 Em Amostras de Gaas Com Dopagem Planar de Silício1998doctoralThesisauthorAlfredo Gontijo de Oliveirahttp://lattes.cnpq.br/5109370460506400UNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAISUNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAISUNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAISPortal de Dados Abertos da CAPESPortal de Dados Abertos da CAPES
_version_ 1741890457446645760

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