Padrões eletrostáticos e nanomecânicos de superfícies isolantes: um estudo por microscopia de força Kelvin (KFM) e microscopia de força pulsada digital (DPFM).

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Rubia Figueredo Gouveia
Data de Publicação: 2010
Tipo de documento: Tese
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
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