Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa
Data de Publicação: | 2014 |
---|---|
Tipo de documento: | Dissertação |
Título da fonte: | Portal de Dados Abertos da CAPES |
id |
BRCRIS_e23eee97b3fd9758338904d7b72f99d3 |
---|---|
network_acronym_str |
CAPES |
network_name_str |
Portal de Dados Abertos da CAPES |
dc.title.pt-BR.fl_str_mv |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
title |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
spellingShingle |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa Regular refletance, diffuse refletance, spectral refletance, spectrophotometry, integrating sphere, uncertainty evaluation. Refletância regular, refletância difusa, refletância espectral, espectrofotometria, esfera integradora, estimativa de incerteza. |
title_short |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
title_full |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
title_fullStr |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
title_full_unstemmed |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
title_sort |
Caracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusa |
topic |
Regular refletance, diffuse refletance, spectral refletance, spectrophotometry, integrating sphere, uncertainty evaluation. Refletância regular, refletância difusa, refletância espectral, espectrofotometria, esfera integradora, estimativa de incerteza. |
publishDate |
2014 |
format |
masterThesis |
author_role |
author |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
ANA PAULA DORNELLES DE ALVARENGA |
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/5662063403613900 |
dc.contributor.advisor1orcid.por.fl_str_mv |
https://orcid.org/0000-0001-8217-874X |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E QUALIDADE INDUSTRIAL |
publisher.none.fl_str_mv |
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E QUALIDADE INDUSTRIAL |
instname_str |
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E QUALIDADE INDUSTRIAL |
dc.publisher.program.fl_str_mv |
METROLOGIA E QUALIDADE |
dc.description.course.none.fl_txt_mv |
METROLOGIA E QUALIDADE |
reponame_str |
Portal de Dados Abertos da CAPES |
collection |
Portal de Dados Abertos da CAPES |
spelling |
CAPESPortal de Dados Abertos da CAPESCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaCaracterização metrológica de um sistema de medição em refletância espectral difusaRegular refletance, diffuse refletance, spectral refletance, spectrophotometry, integrating sphere, uncertainty evaluation.2014masterThesisauthorANA PAULA DORNELLES DE ALVARENGAhttp://lattes.cnpq.br/5662063403613900https://orcid.org/0000-0001-8217-874XINSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E QUALIDADE INDUSTRIALINSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E QUALIDADE INDUSTRIALINSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E QUALIDADE INDUSTRIALMETROLOGIA E QUALIDADEMETROLOGIA E QUALIDADEPortal de Dados Abertos da CAPESPortal de Dados Abertos da CAPES |
_version_ |
1741886563362537472 |