Estudo da Falha por Eletromigração em Trilha Plana de Metalização Al-Si 1% Depositada por Sputtering

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Herman Sander Mansur
Data de Publicação: 1992
Tipo de documento: Dissertação
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
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