A critical-point yield model to appraise the damage caused to soybean by white-mold.

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: REIS, E. M.
Data de Publicação: 2020
Outros Autores: ZANATTA, M., JULIATTI, F. C., CAMPOS, H. D., SILVA, L. H. C. P., MEYER, M. C., NUNES JUNIOR, J., PIMENTA, C. B., CASSETARI NETO, D., MACHADO, A. Q., UTIAMADA, C. M.
Tipo de documento: Artigo
Idioma: eng
Título da fonte: Repositório Institucional da EMBRAPA (Repository Open Access to Scientific Information from EMBRAPA - Alice)
Texto Completo: http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/1129817
http://dx.doi.org/10.14393/BJ-v36n6a2020-55438
Resumo: Título em português: Modelo de ponto crítico para estimar os danos causados pelo mofo-branco em soja. Artigo de acesso aberto.
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José NUNES JUNIOR, CTPA, Centro Tecnológico Para Pesquisas Agropecuárias, Goiänia, GO.
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