A New Test Environment Approach to SEE Detection in MOSFETs

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Luis Eduardo Seixas
Data de Publicação: 2015
Outros Autores: SILVEIRA, M. A. G.; Guazzelli, Marcilei A., Nilberto Medina, AGUIAR, V.A.P., Nemitala Added, GIMENEZ, S. P.
Tipo de documento: Artigo
Texto Completo: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1477
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title A New Test Environment Approach to SEE Detection in MOSFETs
author Luis Eduardo Seixas
author2 SILVEIRA, M. A. G.; Guazzelli, Marcilei A.
Nilberto Medina
AGUIAR, V.A.P.
Nemitala Added
GIMENEZ, S. P.
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