Imageamento de equipamentos de processos industriais pela t??cnica de perfilagem por raios gama

• Autor(a) principal: HARAGUCHI, MARCIO I.
• Data de Publicação: 2013
• Tipo de documento: Dissertação
• Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
• Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10192
• topic: equipment; industrial plants; image scanners; gasers; system failure analysis; repair; control equipment; nondestructive testing

A perfilagem de colunas por raios gama (column gamma scan) ?? uma t??cnica nuclear empregada para solucionar problemas em equipamentos de processos industriais, nas refinarias e petroqu??micas. Consiste na utiliza????o de uma fonte selada e um detector de radia????o [NaI(Tl)], obtendo-se o perfil de densidade unidimensional (1D) do equipamento. Nas ??ltimas d??cadas, ocorreram algumas melhorias na t??cnica de perfilagem, tais como, na digitaliza????o cont??nua das informa????es e nos sistemas de detec????o da radia????o (wireless). Novos aplicativos melhoraram a qualidade da apresenta????o dos resultados. Entretanto, a condi????o da t??cnica n??o mudou drasticamente, desde sua cria????o. Seu resultado ?? simplesmente um gr??fico 1D da densidade m??dia, em fun????o da altura do equipamento industrial. A tecnologia inovadora proposta neste trabalho de Mestrado utiliza a reconstru????o tomogr??fica industrial, via algoritmos iterativos derivados da ART (Algebraic Reconstruction Technique) e do MART (Multiplicative Algebraic Reconstruction Technique), para apresentar o resultado de perfilagem como uma imagem bidimensional (2D) da distribui????o de densidade, ao inv??s de um gr??fico 1D. Nitidamente, uma imagem 2D possui mais informa????es t??cnicas do equipamento em an??lise, permitindo um avan??o na tecnologia de ensaios n??o destrutivos (END). Assim, muitos problemas operacionais n??o detect??veis em equipamentos de processos industriais podem ser descobertos e solucionados de forma on-line, usando-se o imageamento 2D. Esta tecnologia permitiu que um pedido de patente fosse depositado junto ao Instituto Nacional de Propriedade Industrial (INPI).