Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: MELO, ADEILSON P. de
Data de Publicação: 2007
Tipo de documento: Tese
Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11550
Resumo: As propriedades dosim??tricas principais do jade e dos silicatos brasileiros da fam??lia do jade foram estudadas para aplica????es em processos de radia????o de doses altas. Jade ?? uma denomina????o comum a dois silicatos diferentes: jadeita, NaAl(Si2O6), e nefrita, Ca2(Mg, Fe)5(Si4O11)2 (OH)2, que pertencem respectivamente ?? subclasse dos pirox??nios e anfib??lios. As amostras de jade, estudadas neste trabalho, s??o provenientes da ??ustria, Nova Zel??ndia, Estados Unidos e Brasil. Os silicatos brasileiros da fam??lia do jade estudados neste trabalho foram os anfib??lios: tremolita,Ca2Mg5(Si4O11)2(OH)2 e actinolita, Ca2Fe5(Si4O11)2(OH)2; e os pirox??nios: rodonita, MnSiO3 e diops??dio, CaMg(Si2O6). A composi????o mineral??gica e qu??mica foi obtida pelas t??cnicas de an??lise por ativa????o com n??utrons e difra????o de raios X. As propriedades dosim??tricas principais (curvas de emiss??o, curvas de calibra????o, dose m??nima detect??vel, depend??ncia angular e energ??tica, entre outras) foram estudadas, utilizando as t??cnicas de termoluminesc??ncia, emiss??o exoeletr??nica termicamente estimulada e resson??ncia paramagn??tica eletr??nica. As amostras de jade-Teflon e as amostras de silicatos-Teflon apresentam pelo menos dois picos TL, um em torno de 115??C (pico 1) e outro pr??ximo de 210??C (pico 2). As curvas de calibra????o (TL) dos materiais estudados apresentaram comportamento linear na faixa de 0,5Gy a 1kGy. O pico de emiss??o TSEE ocorre em 240??C para todas as amostras e as curvas de calibra????o apresentaram comportamento sublinear na faixa entre 100Gy e 20kGy. No caso da t??cnica de RPE, apenas o jade origin??rio dos Estados Unidos tem potencial de aplica????o em dosimetria das radia????es. Al??m disso, ainda foi realizada uma simula????o computacional est??tica dos prov??veis defeitos intr??nsecos e extr??nsecos presentes na rodonita. Entre os defeitos b??sicos, o defeito Schottky do MnSiO3 ?? o mais prov??vel de ocorrer e, entre os defeitos extr??nsecos, os dopantes bivalentes e trivalentes apresentam uma possibilidade maior de inser????o na rodonita.
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