Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2007 |
Tipo de documento: | Tese |
Título da fonte: | Repositório Institucional do IPEN |
Texto Completo: | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11550 |
Resumo: | As propriedades dosim??tricas principais do jade e dos silicatos brasileiros da fam??lia do jade foram estudadas para aplica????es em processos de radia????o de doses altas. Jade ?? uma denomina????o comum a dois silicatos diferentes: jadeita, NaAl(Si2O6), e nefrita, Ca2(Mg, Fe)5(Si4O11)2 (OH)2, que pertencem respectivamente ?? subclasse dos pirox??nios e anfib??lios. As amostras de jade, estudadas neste trabalho, s??o provenientes da ??ustria, Nova Zel??ndia, Estados Unidos e Brasil. Os silicatos brasileiros da fam??lia do jade estudados neste trabalho foram os anfib??lios: tremolita,Ca2Mg5(Si4O11)2(OH)2 e actinolita, Ca2Fe5(Si4O11)2(OH)2; e os pirox??nios: rodonita, MnSiO3 e diops??dio, CaMg(Si2O6). A composi????o mineral??gica e qu??mica foi obtida pelas t??cnicas de an??lise por ativa????o com n??utrons e difra????o de raios X. As propriedades dosim??tricas principais (curvas de emiss??o, curvas de calibra????o, dose m??nima detect??vel, depend??ncia angular e energ??tica, entre outras) foram estudadas, utilizando as t??cnicas de termoluminesc??ncia, emiss??o exoeletr??nica termicamente estimulada e resson??ncia paramagn??tica eletr??nica. As amostras de jade-Teflon e as amostras de silicatos-Teflon apresentam pelo menos dois picos TL, um em torno de 115??C (pico 1) e outro pr??ximo de 210??C (pico 2). As curvas de calibra????o (TL) dos materiais estudados apresentaram comportamento linear na faixa de 0,5Gy a 1kGy. O pico de emiss??o TSEE ocorre em 240??C para todas as amostras e as curvas de calibra????o apresentaram comportamento sublinear na faixa entre 100Gy e 20kGy. No caso da t??cnica de RPE, apenas o jade origin??rio dos Estados Unidos tem potencial de aplica????o em dosimetria das radia????es. Al??m disso, ainda foi realizada uma simula????o computacional est??tica dos prov??veis defeitos intr??nsecos e extr??nsecos presentes na rodonita. Entre os defeitos b??sicos, o defeito Schottky do MnSiO3 ?? o mais prov??vel de ocorrer e, entre os defeitos extr??nsecos, os dopantes bivalentes e trivalentes apresentam uma possibilidade maior de inser????o na rodonita. |
id |
IPEN_7a1774310137fb47eaa33c2574a70dd3 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.ipen.br:123456789/11550 |
network_acronym_str |
IPEN |
network_name_str |
Repositório Institucional do IPEN |
repository_id_str |
4510 |
spelling |
Linda Viola Ehlin CaldasMELO, ADEILSON P. de20072014-10-09T12:53:09Z2014-10-09T13:58:29Z2014-10-09T12:53:09Z2014-10-09T13:58:29Zhttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/1155010.11606/T.85.2007.tde-29112007-153023As propriedades dosim??tricas principais do jade e dos silicatos brasileiros da fam??lia do jade foram estudadas para aplica????es em processos de radia????o de doses altas. Jade ?? uma denomina????o comum a dois silicatos diferentes: jadeita, NaAl(Si2O6), e nefrita, Ca2(Mg, Fe)5(Si4O11)2 (OH)2, que pertencem respectivamente ?? subclasse dos pirox??nios e anfib??lios. As amostras de jade, estudadas neste trabalho, s??o provenientes da ??ustria, Nova Zel??ndia, Estados Unidos e Brasil. Os silicatos brasileiros da fam??lia do jade estudados neste trabalho foram os anfib??lios: tremolita,Ca2Mg5(Si4O11)2(OH)2 e actinolita, Ca2Fe5(Si4O11)2(OH)2; e os pirox??nios: rodonita, MnSiO3 e diops??dio, CaMg(Si2O6). A composi????o mineral??gica e qu??mica foi obtida pelas t??cnicas de an??lise por ativa????o com n??utrons e difra????o de raios X. As propriedades dosim??tricas principais (curvas de emiss??o, curvas de calibra????o, dose m??nima detect??vel, depend??ncia angular e energ??tica, entre outras) foram estudadas, utilizando as t??cnicas de termoluminesc??ncia, emiss??o exoeletr??nica termicamente estimulada e resson??ncia paramagn??tica eletr??nica. As amostras de jade-Teflon e as amostras de silicatos-Teflon apresentam pelo menos dois picos TL, um em torno de 115??C (pico 1) e outro pr??ximo de 210??C (pico 2). As curvas de calibra????o (TL) dos materiais estudados apresentaram comportamento linear na faixa de 0,5Gy a 1kGy. O pico de emiss??o TSEE ocorre em 240??C para todas as amostras e as curvas de calibra????o apresentaram comportamento sublinear na faixa entre 100Gy e 20kGy. No caso da t??cnica de RPE, apenas o jade origin??rio dos Estados Unidos tem potencial de aplica????o em dosimetria das radia????es. Al??m disso, ainda foi realizada uma simula????o computacional est??tica dos prov??veis defeitos intr??nsecos e extr??nsecos presentes na rodonita. Entre os defeitos b??sicos, o defeito Schottky do MnSiO3 ?? o mais prov??vel de ocorrer e, entre os defeitos extr??nsecos, os dopantes bivalentes e trivalentes apresentam uma possibilidade maior de inser????o na rodonita.Made available in DSpace on 2014-10-09T12:53:09Z (GMT). No. of bitstreams: 0Made available in DSpace on 2014-10-09T13:58:29Z (GMT). No. of bitstreams: 0Tese (Doutoramento)IPEN/TInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SPsilicate mineralsdosimetryneutron activation analysisx-ray diffractionthermoluminescenceCaracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????esinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisNS??o Pauloinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional do IPENinstname:Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN)instacron:IPEN11657T539.12.08 / M528cS61MELO, ADEILSON P. de07-06http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-29112007-153023/3226MELO, ADEILSON P. DE:3226:28:S123456789/115502020-05-28 18:27:47.561oai:repositorio.ipen.br:123456789/11550Repositório InstitucionalPUBhttp://repositorio.ipen.br/oai/requestbibl@ipen.bropendoar:45102020-05-28T18:27:47Repositório Institucional do IPEN - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
title |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
spellingShingle |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es MELO, ADEILSON P. de silicate minerals dosimetry neutron activation analysis x-ray diffraction thermoluminescence |
title_short |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
title_full |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
title_fullStr |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
title_full_unstemmed |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
title_sort |
Caracteriza????o do jade e dos silicatos da familia do jade para aplica????o em dosimetria das radia????es |
author |
MELO, ADEILSON P. de |
author_facet |
MELO, ADEILSON P. de |
author_role |
author |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Linda Viola Ehlin Caldas |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
MELO, ADEILSON P. de |
contributor_str_mv |
Linda Viola Ehlin Caldas |
dc.subject.por.fl_str_mv |
silicate minerals dosimetry neutron activation analysis x-ray diffraction thermoluminescence |
topic |
silicate minerals dosimetry neutron activation analysis x-ray diffraction thermoluminescence |
description |
As propriedades dosim??tricas principais do jade e dos silicatos brasileiros da fam??lia do jade foram estudadas para aplica????es em processos de radia????o de doses altas. Jade ?? uma denomina????o comum a dois silicatos diferentes: jadeita, NaAl(Si2O6), e nefrita, Ca2(Mg, Fe)5(Si4O11)2 (OH)2, que pertencem respectivamente ?? subclasse dos pirox??nios e anfib??lios. As amostras de jade, estudadas neste trabalho, s??o provenientes da ??ustria, Nova Zel??ndia, Estados Unidos e Brasil. Os silicatos brasileiros da fam??lia do jade estudados neste trabalho foram os anfib??lios: tremolita,Ca2Mg5(Si4O11)2(OH)2 e actinolita, Ca2Fe5(Si4O11)2(OH)2; e os pirox??nios: rodonita, MnSiO3 e diops??dio, CaMg(Si2O6). A composi????o mineral??gica e qu??mica foi obtida pelas t??cnicas de an??lise por ativa????o com n??utrons e difra????o de raios X. As propriedades dosim??tricas principais (curvas de emiss??o, curvas de calibra????o, dose m??nima detect??vel, depend??ncia angular e energ??tica, entre outras) foram estudadas, utilizando as t??cnicas de termoluminesc??ncia, emiss??o exoeletr??nica termicamente estimulada e resson??ncia paramagn??tica eletr??nica. As amostras de jade-Teflon e as amostras de silicatos-Teflon apresentam pelo menos dois picos TL, um em torno de 115??C (pico 1) e outro pr??ximo de 210??C (pico 2). As curvas de calibra????o (TL) dos materiais estudados apresentaram comportamento linear na faixa de 0,5Gy a 1kGy. O pico de emiss??o TSEE ocorre em 240??C para todas as amostras e as curvas de calibra????o apresentaram comportamento sublinear na faixa entre 100Gy e 20kGy. No caso da t??cnica de RPE, apenas o jade origin??rio dos Estados Unidos tem potencial de aplica????o em dosimetria das radia????es. Al??m disso, ainda foi realizada uma simula????o computacional est??tica dos prov??veis defeitos intr??nsecos e extr??nsecos presentes na rodonita. Entre os defeitos b??sicos, o defeito Schottky do MnSiO3 ?? o mais prov??vel de ocorrer e, entre os defeitos extr??nsecos, os dopantes bivalentes e trivalentes apresentam uma possibilidade maior de inser????o na rodonita. |
publishDate |
2007 |
dc.date.pt_BR.fl_str_mv |
2007 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2014-10-09T12:53:09Z 2014-10-09T13:58:29Z |
dc.date.available.fl_str_mv |
2014-10-09T12:53:09Z 2014-10-09T13:58:29Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
format |
doctoralThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11550 |
dc.identifier.doi.none.fl_str_mv |
10.11606/T.85.2007.tde-29112007-153023 |
url |
http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11550 |
identifier_str_mv |
10.11606/T.85.2007.tde-29112007-153023 |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.coverage.pt_BR.fl_str_mv |
N |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional do IPEN instname:Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) instacron:IPEN |
instname_str |
Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) |
instacron_str |
IPEN |
institution |
IPEN |
reponame_str |
Repositório Institucional do IPEN |
collection |
Repositório Institucional do IPEN |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional do IPEN - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) |
repository.mail.fl_str_mv |
bibl@ipen.br |
_version_ |
1767254189742751744 |