Estudo do desenvolvimento da textura durante a recristaliza????o prim??ria de a??os ferr??ticos por difra????o de raios X e difra????o de el??trons retroespalhados

• Autor(a) principal: LOW, MARJORIE
• Data de Publicação: 2006
• Tipo de documento: Tese
• Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
• Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11449
• topic: ferritic steels; carbon steels; recrystallization; texture; annealing; grain growth; electron diffraction; backscattering

A difra????o de raios X e de el??trons retroespalhados, em escalas distintas, foram aplicadas para acompanhar mudan??as microestruturais em dois a??os ferr??ticos baixo carbono (2%Si e ABNT 1006), observando-se o desenvolvimento da textura nas etapas de lamina????o a frio (skin-pass) e recozimento a 760 oC. Para ambos os a??os, os resultados permitiram afirmar que o fen??meno que ocorre ap??s a lamina????o por skin-pass e tratamento t??rmico, nas condi????es deste trabalho, ?? a recristaliza????o prim??ria. A aplica????o do skin-pass criou mais discord??ncias em gr??os com baixo fator de Taylor por sofrerem mais deforma????es. Observou-se a nuclea????o e crescimento de gr??os em regi??es de grande densidade de c??lulas de discord??ncias. A presen??a do sil??cio atrasou a recupera????o favorecendo o aumento de subcontornos. N??o foi observado o crescimento anormal de gr??os, nem em fun????o da presen??a de gr??os Goss. Os contornos CSL n??o garantiram o crescimento do gr??o. N??cleos de crescimento de gr??os deram origem a gr??os com orienta????es distintas, indicando que o crescimento de gr??os n??o dependeu da exist??ncia pr??via de gr??os com as orienta????es desenvolvidas, demonstrando que o crescimento anormal de gr??os n??o est?? relacionado necessariamente com os gr??os Goss.