Estudo de orientacoes cristalograficas de acos ao silicio utilizando tecnicas de difracao de raios X, difracao de eletrons e metodo ETCH PIT

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: SANTOS, HAMILTA de O.
Data de Publicação: 1999
Tipo de documento: Dissertação
Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10783
Resumo: Dissertacao (Mestrado)
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