Inclus??o e remo????o t??rmica de NaCl, KI e grafite para obten????o de cer??micas porosas de zirc??nia estabilizada com ??tria

• Autor(a) principal: CARVALHO, SABRINA G. de M.
• Data de Publicação: 2013
• Tipo de documento: Dissertação
• Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
• Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10553
• topic: zirconium oxides; yttrium oxides; porous materials; ceramics; potassium iodides; sodium chlorides; graphite; additives; thermal gravimetric analysis; differential thermal analysis; dilatometry; x-ray diffraction; impedance; spectroscopy

Cer??micas de zirc??nia estabilizada com ??tria s??o utilizadas na forma densa como eletr??lito e na forma porosa como ??nodo em c??lulas a combust??vel de ??xido s??lido. Neste trabalho cer??micas porosas de zirc??nia estabilizada com 8 mol% de ??tria foram preparadas por meio da adi????o de diferentes teores de KI, NaCl e grafite como aditivo sacrificial. A remo????o t??rmica do aditivo foi avaliada por meio de an??lises termogravim??trica, t??rmica diferencial e dilatom??trica. As amostras foram preparadas por meio de mistura, compacta????o e sinteriza????o a 1400 ??C/2 h. As amostras foram caracterizadas por difra????o de raios X(DRX) e an??lise topogr??fica em microsc??pio de varredura por sonda e microsc??pio eletr??nico de varredura de superf??cies polidas e atacadas para avalia????o da distribui????o do teor de poros e tamanho m??dio de gr??os. O teor do aditivo residual foi avaliado por fluoresc??ncia de raios X (FRX). O comportamento el??trico foi analisado por espectroscopia de imped??ncia (EI) na faixa de frequ??ncias 5 Hz-10 MHz entre 300 ??C e 450 ??C. Os resultados de FRX mostram que n??o h?? res??duo do aditivo ap??s sinteriza????o. A an??lise de DRX indica que todas as amostras t??m fase ??nica, c??bica tipo fluorita. Os diagramas de imped??ncia mostram que h?? aumento i) das resistividades el??tricas intergranular e intragranular, evidenciando a forma????o de poros em ambas as regi??es, ii) do ??ngulo de descentraliza????o do semic??rculo a baixas frequ??ncias, devido ao aumento do grau de heterogeneidade pela presen??a de poros, e iii) do produto do fator de bloqueio R pelo fator de frequ??ncia f, consequ??ncia do aumento do teor de poros. Esses resultados est??o em concord??ncia com os resultados das an??lises de microscopia de varredura por sonda e de microscopia eletr??nica de varredura.