Desenvolvimento de amostras padr??o de refer??ncia para difratometria

• Autor(a) principal: GALVAO, ANTONIO de S.
• Data de Publicação: 2011
• Tipo de documento: Dissertação
• Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
• DOI: 10.11606/D.85.2011.tde-25082011-153452
• Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10005
• topic: diffractometers; x-ray diffraction; calibration standards; polycrystals; crystallography; crystal structure

Neste trabalho foram desenvolvidas amostras de materiais padr??o de refer??ncia para difratometria de policristais. Materiais de alta pureza foram tratados mec??nica e termicamente at?? atingirem as caracter??sticas necess??rias para serem usados como materiais padr??o de refer??ncia de alta qualidade, compar??veis ??queles produzidos pelo NIST. As medidas foram feitas inicialmente em v??rios difrat??metros convencionais de laborat??rio de difra????o de raios X, com geometria de Bragg -Brentano, difrat??metros de n??utrons e, posteriormente, em equipamento de alta resolu????o com fonte s??ncrotron. Os par??metros de rede obtidos foram calculados pelo programa Origin e ajustados pelo M??todo dos M??nimos Quadrados. Esses ajustes foram comparados com os obtidos pelo M??todo de Rietveld, usando o programa GSAS atrav??s da interface gr??fica EXPGUI, mostrando-se bastante satisfat??rios. Os materiais obtidos foram alumina-α, ??tria, sil??cio, c??ria, hexaboreto de lant??nio e fluoreto de l??tio, que apresentaram qualidade semelhante e, em alguns casos, superiores aos padr??es desenvolvidos e comercializados pelo NIST, a custos bem menores.