Characterization of PHS coating layer using GDOES technique
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2019 |
Outros Autores: | , , , , , |
Tipo de documento: | Artigo de conferência |
Título da fonte: | Repositório Institucional do IPEN |
Texto Completo: | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/30103 |
Resumo: | O objetivo do estudo foi analisar o perfil de composi????o qu??mica do revestimento Al-Si em a??os PHS, por meio da t??cnica de GDOES. Devido ??s elevadas temperatura no processo de estampagem a quente ocorre ?? difus??o dos elementos do revestimento e do substrato. Os resultados revelaram que na amostra como recebida, o revestimento apresenta grandes porcentagens de alum??nio, sil??cio e oxig??nio, que se difundem e diminuem de concentra????o em dire????o ao substrato, enquanto que a porcentagem de ferro aumenta. Os resultados das amostras tratadas termicamente em laborat??rio e do produto final s??o muito similares, o que indica que o tratamento t??rmico realizado em laborat??rio simula corretamente o processo t??rmico da estampagem industrial. O revestimento ?? formado por alum??nio e ferro, que variam uniformemente at?? atingir o substrato onde a porcentagem de alum??nio diminui em rela????o ?? de ferro. A camada revestida tamb??m ?? composta por oxig??nio e sil??cio que se difundem em dire????o ao substrato, onde a porcentagem de oxig??nio diminui gradativamente e a de sil??cio n??o se altera. Os resultados de GDOES mostraram as altera????es que ocorrem na camada revestida do a??o PHS, e evidenciaram que ap??s o processo de estampagem a quente podem ser formados ??xidos e fases compostas por Al-Fe ou Al-Fe-Si. |
id |
IPEN_e35249f1633298db10a5b761f64d1915 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.ipen.br:123456789/30103 |
network_acronym_str |
IPEN |
network_name_str |
Repositório Institucional do IPEN |
repository_id_str |
4510 |
spelling |
2019-08-20T18:46:55Z2019-08-20T18:46:55Z4-7 de setembro, 2017http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/3010310.5151/phypro-viii-efa-080000-0002-8304-9939O objetivo do estudo foi analisar o perfil de composi????o qu??mica do revestimento Al-Si em a??os PHS, por meio da t??cnica de GDOES. Devido ??s elevadas temperatura no processo de estampagem a quente ocorre ?? difus??o dos elementos do revestimento e do substrato. Os resultados revelaram que na amostra como recebida, o revestimento apresenta grandes porcentagens de alum??nio, sil??cio e oxig??nio, que se difundem e diminuem de concentra????o em dire????o ao substrato, enquanto que a porcentagem de ferro aumenta. Os resultados das amostras tratadas termicamente em laborat??rio e do produto final s??o muito similares, o que indica que o tratamento t??rmico realizado em laborat??rio simula corretamente o processo t??rmico da estampagem industrial. O revestimento ?? formado por alum??nio e ferro, que variam uniformemente at?? atingir o substrato onde a porcentagem de alum??nio diminui em rela????o ?? de ferro. A camada revestida tamb??m ?? composta por oxig??nio e sil??cio que se difundem em dire????o ao substrato, onde a porcentagem de oxig??nio diminui gradativamente e a de sil??cio n??o se altera. Os resultados de GDOES mostraram as altera????es que ocorrem na camada revestida do a??o PHS, e evidenciaram que ap??s o processo de estampagem a quente podem ser formados ??xidos e fases compostas por Al-Fe ou Al-Fe-Si.Submitted by Pedro Silva Filho (pfsilva@ipen.br) on 2019-08-20T18:46:55Z No. of bitstreams: 1 25897.pdf: 469042 bytes, checksum: 2f2660654531e4d033e42b563fd0bcaf (MD5)Made available in DSpace on 2019-08-20T18:46:55Z (GMT). No. of bitstreams: 1 25897.pdf: 469042 bytes, checksum: 2f2660654531e4d033e42b563fd0bcaf (MD5)BlucherCharacterization of PHS coating layer using GDOES techniqueinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectNS??o PauloVit??ria, ES142431401014245917502600600600600600COUTO, C.P.GOMES, M.P.COSTA, P.D.O.COLOSIO, M.A.POLITANO, R.ROSSI, J.L.ENCONTRO CIENT??FICO DE F??SICA APLICADA, 8.info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional do IPENinstname:Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN)instacron:IPEN258972017ROSSI, J.L.POLITANO, R.COSTA, P.D.O.GOMES, M.P.COUTO, C.P.19-08Anais502917142451401014243ROSSI, J.L.:502:730:NPOLITANO, R.:917:730:NCOSTA, P.D.O.:14245:730:NGOMES, M.P.:14010:730:NCOUTO, C.P.:14243:730:SORIGINAL25897.pdf25897.pdfapplication/pdf469042http://repositorio.ipen.br/bitstream/123456789/30103/1/25897.pdf2f2660654531e4d033e42b563fd0bcafMD51LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748http://repositorio.ipen.br/bitstream/123456789/30103/2/license.txt8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD52123456789/301032019-08-20 18:53:25.016oai:repositorio.ipen.br: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Repositório InstitucionalPUBhttp://repositorio.ipen.br/oai/requestbibl@ipen.bropendoar:45102019-08-20T18:53:25Repositório Institucional do IPEN - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
title |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
spellingShingle |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique COUTO, C.P. |
title_short |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
title_full |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
title_fullStr |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
title_full_unstemmed |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
title_sort |
Characterization of PHS coating layer using GDOES technique |
author |
COUTO, C.P. |
author_facet |
COUTO, C.P. GOMES, M.P. COSTA, P.D.O. COLOSIO, M.A. POLITANO, R. ROSSI, J.L. ENCONTRO CIENT??FICO DE F??SICA APLICADA, 8. |
author_role |
author |
author2 |
GOMES, M.P. COSTA, P.D.O. COLOSIO, M.A. POLITANO, R. ROSSI, J.L. ENCONTRO CIENT??FICO DE F??SICA APLICADA, 8. |
author2_role |
author author author author author author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
COUTO, C.P. GOMES, M.P. COSTA, P.D.O. COLOSIO, M.A. POLITANO, R. ROSSI, J.L. ENCONTRO CIENT??FICO DE F??SICA APLICADA, 8. |
description |
O objetivo do estudo foi analisar o perfil de composi????o qu??mica do revestimento Al-Si em a??os PHS, por meio da t??cnica de GDOES. Devido ??s elevadas temperatura no processo de estampagem a quente ocorre ?? difus??o dos elementos do revestimento e do substrato. Os resultados revelaram que na amostra como recebida, o revestimento apresenta grandes porcentagens de alum??nio, sil??cio e oxig??nio, que se difundem e diminuem de concentra????o em dire????o ao substrato, enquanto que a porcentagem de ferro aumenta. Os resultados das amostras tratadas termicamente em laborat??rio e do produto final s??o muito similares, o que indica que o tratamento t??rmico realizado em laborat??rio simula corretamente o processo t??rmico da estampagem industrial. O revestimento ?? formado por alum??nio e ferro, que variam uniformemente at?? atingir o substrato onde a porcentagem de alum??nio diminui em rela????o ?? de ferro. A camada revestida tamb??m ?? composta por oxig??nio e sil??cio que se difundem em dire????o ao substrato, onde a porcentagem de oxig??nio diminui gradativamente e a de sil??cio n??o se altera. Os resultados de GDOES mostraram as altera????es que ocorrem na camada revestida do a??o PHS, e evidenciaram que ap??s o processo de estampagem a quente podem ser formados ??xidos e fases compostas por Al-Fe ou Al-Fe-Si. |
publishDate |
2019 |
dc.date.evento.pt_BR.fl_str_mv |
4-7 de setembro, 2017 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2019-08-20T18:46:55Z |
dc.date.available.fl_str_mv |
2019-08-20T18:46:55Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
format |
conferenceObject |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/30103 |
dc.identifier.doi.pt_BR.fl_str_mv |
10.5151/phypro-viii-efa-08 |
dc.identifier.orcid.pt_BR.fl_str_mv |
0000-0002-8304-9939 |
url |
http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/30103 |
identifier_str_mv |
10.5151/phypro-viii-efa-08 0000-0002-8304-9939 |
dc.relation.authority.fl_str_mv |
14243 14010 14245 917 502 |
dc.relation.confidence.fl_str_mv |
600 600 600 600 600 |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.coverage.pt_BR.fl_str_mv |
N |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Blucher |
publisher.none.fl_str_mv |
Blucher |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional do IPEN instname:Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) instacron:IPEN |
instname_str |
Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) |
instacron_str |
IPEN |
institution |
IPEN |
reponame_str |
Repositório Institucional do IPEN |
collection |
Repositório Institucional do IPEN |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://repositorio.ipen.br/bitstream/123456789/30103/1/25897.pdf http://repositorio.ipen.br/bitstream/123456789/30103/2/license.txt |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
2f2660654531e4d033e42b563fd0bcaf 8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional do IPEN - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN) |
repository.mail.fl_str_mv |
bibl@ipen.br |
_version_ |
1767254247854833664 |