Aplica????es do m??todo Warren-Averbach de an??lise de perfis de difra????o

• Autor(a) principal: ICHIKAWA, RODRIGO U.
• Data de Publicação: 2013
• Tipo de documento: Dissertação
• Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
• DOI: 10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427
• Texto Completo: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10585
• topic: crystallography; fourier analysis; chemical analysis; x-ray diffraction; microstructure; zircaloy; yttrium oxides; zinc oxides; computer codes

O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a an??lise de perfis de difra????o de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determina????o do tamanho m??dio de cristalitos e microdeforma????o em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um programa computacional para facilitar o tratamento dos picos presentes em um difratograma e realizar a deconvolu????o de perfis atrav??s do M??todo de Stokes para se corrigir a contribui????o instrumental nos perfis de difra????o. Os m??todos de XLPA de espa??o real estudados e aplicados neste trabalho foram os m??todos de Scherrer, Williamson-Hall e Single-Line (ou Linha ??nica) e o m??todo de Warren-Averbach de espa??o de Fourier. Al??m disso, utilizando-se um modelamento matem??tico foi poss??vel calcular a distribui????o de tamanhos de cristalitos para um caso isotr??pico, onde considerou-se a distribui????o log-normal e cristalitos com forma esf??rica. Foi poss??vel demonstrar que a teoria proposta pode ser considerada como uma boa aproxima????o avaliando-se uma raz??o de dispers??o. As metodologias descritas acima foram aplicadas em dois materiais distintos: na liga met??lica Zircaloy-4 e em ZnO.