Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Roberto D'Amore
Data de Publicação: 1990
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA
Texto Completo: http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1439
Resumo: O trabalho apresenta um procedimento de teste, para um somador tipo "carry-lookahead';. A estrutura é adequada para implementações em alta escala de integração, cosistindo em um conjunto de processadores independentes, interligados de maneira regular. O procedimento de teste é executado em duas etapas: a primeira a nível de estrutura e a segunda a nível de circuito. A finalidade da divisão é permitir cobertura de um mínimo elevado de falhas, considerando a tecnologia empregada na fabricação. No final do trabalho é descrito o projeto das células usadas na implementação da estrutura.
id ITA_68af1291c7d3acc3cc48d178fd153f4b
oai_identifier_str oai:agregador.ibict.br.BDTD_ITA:oai:ita.br:1439
network_acronym_str ITA
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA
spelling Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcionalProjeto para testabilidadeMicroeletrônicaEngenharia eletrônicaO trabalho apresenta um procedimento de teste, para um somador tipo "carry-lookahead';. A estrutura é adequada para implementações em alta escala de integração, cosistindo em um conjunto de processadores independentes, interligados de maneira regular. O procedimento de teste é executado em duas etapas: a primeira a nível de estrutura e a segunda a nível de circuito. A finalidade da divisão é permitir cobertura de um mínimo elevado de falhas, considerando a tecnologia empregada na fabricação. No final do trabalho é descrito o projeto das células usadas na implementação da estrutura.Instituto Tecnológico de AeronáuticaDarcy Domingues NovoJean Albert BodinaudRoberto D'Amore1990-12-01info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesishttp://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1439reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITAinstname:Instituto Tecnológico de Aeronáuticainstacron:ITAporinfo:eu-repo/semantics/openAccessapplication/pdf2019-02-02T14:02:41Zoai:agregador.ibict.br.BDTD_ITA:oai:ita.br:1439http://oai.bdtd.ibict.br/requestopendoar:null2020-05-28 19:36:20.944Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA - Instituto Tecnológico de Aeronáuticatrue
dc.title.none.fl_str_mv Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
title Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
spellingShingle Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
Roberto D'Amore
Projeto para testabilidade
Microeletrônica
Engenharia eletrônica
title_short Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
title_full Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
title_fullStr Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
title_full_unstemmed Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
title_sort Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
author Roberto D'Amore
author_facet Roberto D'Amore
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Darcy Domingues Novo
Jean Albert Bodinaud
dc.contributor.author.fl_str_mv Roberto D'Amore
dc.subject.por.fl_str_mv Projeto para testabilidade
Microeletrônica
Engenharia eletrônica
topic Projeto para testabilidade
Microeletrônica
Engenharia eletrônica
dc.description.none.fl_txt_mv O trabalho apresenta um procedimento de teste, para um somador tipo "carry-lookahead';. A estrutura é adequada para implementações em alta escala de integração, cosistindo em um conjunto de processadores independentes, interligados de maneira regular. O procedimento de teste é executado em duas etapas: a primeira a nível de estrutura e a segunda a nível de circuito. A finalidade da divisão é permitir cobertura de um mínimo elevado de falhas, considerando a tecnologia empregada na fabricação. No final do trabalho é descrito o projeto das células usadas na implementação da estrutura.
description O trabalho apresenta um procedimento de teste, para um somador tipo "carry-lookahead';. A estrutura é adequada para implementações em alta escala de integração, cosistindo em um conjunto de processadores independentes, interligados de maneira regular. O procedimento de teste é executado em duas etapas: a primeira a nível de estrutura e a segunda a nível de circuito. A finalidade da divisão é permitir cobertura de um mínimo elevado de falhas, considerando a tecnologia empregada na fabricação. No final do trabalho é descrito o projeto das células usadas na implementação da estrutura.
publishDate 1990
dc.date.none.fl_str_mv 1990-12-01
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/masterThesis
status_str publishedVersion
format masterThesis
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1439
url http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1439
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Instituto Tecnológico de Aeronáutica
publisher.none.fl_str_mv Instituto Tecnológico de Aeronáutica
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA
instname:Instituto Tecnológico de Aeronáutica
instacron:ITA
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA
instname_str Instituto Tecnológico de Aeronáutica
instacron_str ITA
institution ITA
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do ITA - Instituto Tecnológico de Aeronáutica
repository.mail.fl_str_mv
subject_por_txtF_mv Projeto para testabilidade
Microeletrônica
Engenharia eletrônica
_version_ 1706809269791227904

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