Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2008 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS |
Texto Completo: | http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/2985 |
Resumo: | Tendo em vista que o barramento de alimentação (VCC e Gnd) afeta diretamente a integridade de sinal de sistemas em chip (Systems-on-Chip, SoC) através de oscilações de tensão que podem induzir a erros funcionais, este trabalho tem por objetivo validar uma técnica inovadora, denominada CDCDC (Clock Duty Cycle Dynamic Control). Esta técnica visa aumentar a robustez de circuitos integrados (CI) digitais síncronos a tais oscilações de tensão. A técnica em questão realiza o controle dinâmico do ciclo de trabalho (duty-cycle) do sinal de relógio (clock) de acordo com a presença de perturbações (ruídos) nas linhas de alimentação. Este controle dinâmico do sinal de relógio realiza o prolongamento ou a redução do ciclo de trabalho, permitindo assim que o circuito síncrono apresente uma maior robustez às flutuações dos níveis de tensão nas linhas de alimentação, sem que haja redução da freqüência do sinal de relógio. Garante-se desta forma, a manutenção do desempenho do sistema mesmo quando este estiver operando em ambientes expostos ao ruído. Considerando que a interferência eletromagnética (EMI) é uma das principais causas de oscilações no barramento de alimentação de circuitos integrados (CI s), o que por sua vez compromete drasticamente a confiabilidade dos sistemas através da redução da margem de sinal/ruído, este trabalho tem por objetivo validar a utilização da técnica CDCDC para o aumento da robustez de CI s operando expostos à EMI |
id |
P_RS_c5a4b5406ee5c04b4e872c4f706571b5 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:tede2.pucrs.br:tede/2985 |
network_acronym_str |
P_RS |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS |
repository_id_str |
|
spelling |
Vargas, Fabian LuisCPF:45411891000http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4788515U8CPF:80862519004http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4227813U3Moraes, Marlon Leandro2015-04-14T13:56:09Z2008-05-162008-03-10MORAES, Marlon Leandro. Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação. 2008. 177 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2008.http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/2985Made available in DSpace on 2015-04-14T13:56:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 401158.pdf: 9853099 bytes, checksum: 1e66fe399c5e86bc932c94f590606b95 (MD5) Previous issue date: 2008-03-10Tendo em vista que o barramento de alimentação (VCC e Gnd) afeta diretamente a integridade de sinal de sistemas em chip (Systems-on-Chip, SoC) através de oscilações de tensão que podem induzir a erros funcionais, este trabalho tem por objetivo validar uma técnica inovadora, denominada CDCDC (Clock Duty Cycle Dynamic Control). Esta técnica visa aumentar a robustez de circuitos integrados (CI) digitais síncronos a tais oscilações de tensão. A técnica em questão realiza o controle dinâmico do ciclo de trabalho (duty-cycle) do sinal de relógio (clock) de acordo com a presença de perturbações (ruídos) nas linhas de alimentação. Este controle dinâmico do sinal de relógio realiza o prolongamento ou a redução do ciclo de trabalho, permitindo assim que o circuito síncrono apresente uma maior robustez às flutuações dos níveis de tensão nas linhas de alimentação, sem que haja redução da freqüência do sinal de relógio. Garante-se desta forma, a manutenção do desempenho do sistema mesmo quando este estiver operando em ambientes expostos ao ruído. Considerando que a interferência eletromagnética (EMI) é uma das principais causas de oscilações no barramento de alimentação de circuitos integrados (CI s), o que por sua vez compromete drasticamente a confiabilidade dos sistemas através da redução da margem de sinal/ruído, este trabalho tem por objetivo validar a utilização da técnica CDCDC para o aumento da robustez de CI s operando expostos à EMIapplication/pdfhttp://tede2.pucrs.br:80/tede2/retrieve/9093/401158.pdf.jpgporPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do SulPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaPUCRSBRFaculdade de EngenhariaCIRCUITOS INTEGRADOSSISTEMAS ELETRÔNICOSELETROMAGNETISMOTOLERÂNCIA A FALHAS (COMPUTAÇÃO)CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICAValidação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentaçãoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesis207662918905964549500600-655770572761439785info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RSinstname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)instacron:PUC_RSTHUMBNAIL401158.pdf.jpg401158.pdf.jpgimage/jpeg4096http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/2985/3/401158.pdf.jpg8cb6ba72ff5d17d889dc9e8c911f672bMD53TEXT401158.pdf.txt401158.pdf.txttext/plain343551http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/2985/2/401158.pdf.txtb83a0ecc23156aa45ea59c545ffa99ebMD52ORIGINAL401158.pdfapplication/pdf9853099http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/2985/1/401158.pdf1e66fe399c5e86bc932c94f590606b95MD51tede/29852015-04-17 16:03:34.848oai:tede2.pucrs.br:tede/2985Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://tede2.pucrs.br/tede2/PRIhttps://tede2.pucrs.br/oai/requestbiblioteca.central@pucrs.br||opendoar:2015-04-17T19:03:34Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)false |
dc.title.por.fl_str_mv |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
title |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
spellingShingle |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação Moraes, Marlon Leandro CIRCUITOS INTEGRADOS SISTEMAS ELETRÔNICOS ELETROMAGNETISMO TOLERÂNCIA A FALHAS (COMPUTAÇÃO) CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
title_short |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
title_full |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
title_fullStr |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
title_full_unstemmed |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
title_sort |
Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação |
author |
Moraes, Marlon Leandro |
author_facet |
Moraes, Marlon Leandro |
author_role |
author |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Vargas, Fabian Luis |
dc.contributor.advisor1ID.fl_str_mv |
CPF:45411891000 |
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv |
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4788515U8 |
dc.contributor.authorID.fl_str_mv |
CPF:80862519004 |
dc.contributor.authorLattes.fl_str_mv |
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4227813U3 |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Moraes, Marlon Leandro |
contributor_str_mv |
Vargas, Fabian Luis |
dc.subject.por.fl_str_mv |
CIRCUITOS INTEGRADOS SISTEMAS ELETRÔNICOS ELETROMAGNETISMO TOLERÂNCIA A FALHAS (COMPUTAÇÃO) |
topic |
CIRCUITOS INTEGRADOS SISTEMAS ELETRÔNICOS ELETROMAGNETISMO TOLERÂNCIA A FALHAS (COMPUTAÇÃO) CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
dc.subject.cnpq.fl_str_mv |
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
description |
Tendo em vista que o barramento de alimentação (VCC e Gnd) afeta diretamente a integridade de sinal de sistemas em chip (Systems-on-Chip, SoC) através de oscilações de tensão que podem induzir a erros funcionais, este trabalho tem por objetivo validar uma técnica inovadora, denominada CDCDC (Clock Duty Cycle Dynamic Control). Esta técnica visa aumentar a robustez de circuitos integrados (CI) digitais síncronos a tais oscilações de tensão. A técnica em questão realiza o controle dinâmico do ciclo de trabalho (duty-cycle) do sinal de relógio (clock) de acordo com a presença de perturbações (ruídos) nas linhas de alimentação. Este controle dinâmico do sinal de relógio realiza o prolongamento ou a redução do ciclo de trabalho, permitindo assim que o circuito síncrono apresente uma maior robustez às flutuações dos níveis de tensão nas linhas de alimentação, sem que haja redução da freqüência do sinal de relógio. Garante-se desta forma, a manutenção do desempenho do sistema mesmo quando este estiver operando em ambientes expostos ao ruído. Considerando que a interferência eletromagnética (EMI) é uma das principais causas de oscilações no barramento de alimentação de circuitos integrados (CI s), o que por sua vez compromete drasticamente a confiabilidade dos sistemas através da redução da margem de sinal/ruído, este trabalho tem por objetivo validar a utilização da técnica CDCDC para o aumento da robustez de CI s operando expostos à EMI |
publishDate |
2008 |
dc.date.available.fl_str_mv |
2008-05-16 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2008-03-10 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2015-04-14T13:56:09Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.citation.fl_str_mv |
MORAES, Marlon Leandro. Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação. 2008. 177 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2008. |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/2985 |
identifier_str_mv |
MORAES, Marlon Leandro. Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação. 2008. 177 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2008. |
url |
http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/2985 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.relation.program.fl_str_mv |
207662918905964549 |
dc.relation.confidence.fl_str_mv |
500 600 |
dc.relation.department.fl_str_mv |
-655770572761439785 |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul |
dc.publisher.program.fl_str_mv |
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica |
dc.publisher.initials.fl_str_mv |
PUCRS |
dc.publisher.country.fl_str_mv |
BR |
dc.publisher.department.fl_str_mv |
Faculdade de Engenharia |
publisher.none.fl_str_mv |
Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS) instacron:PUC_RS |
instname_str |
Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS) |
instacron_str |
PUC_RS |
institution |
PUC_RS |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/2985/3/401158.pdf.jpg http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/2985/2/401158.pdf.txt http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/2985/1/401158.pdf |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
8cb6ba72ff5d17d889dc9e8c911f672b b83a0ecc23156aa45ea59c545ffa99eb 1e66fe399c5e86bc932c94f590606b95 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS) |
repository.mail.fl_str_mv |
biblioteca.central@pucrs.br|| |
_version_ |
1799765290276356096 |