Efeito da temperatura na emissão de electrões secundários em amostras de carbono amorfo

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Candeias, Sara Raquel Martins
Data de Publicação: 2012
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10362/8477
Resumo: Dissertação para obtenção do Grau de Mestre em Engenharia Física
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spelling Efeito da temperatura na emissão de electrões secundários em amostras de carbono amorfoCarbono amorfoSEYTemperaturaEnvelhecimentoRecuperaçãoDissertação para obtenção do Grau de Mestre em Engenharia FísicaNos aceleradores de partículas de alta energia podem formar-se nuvens electrónicas, através de vários processos, que levam a várias consequências indesejadas como o aumento da pressão dinâmica e a degradação da qualidade do feixe [1]. O fenómeno das nuvens electrónicas baseia-se na multiplicação de electrões e pode ser suprimida se a taxa de produção de electrões secundários (SEY) do material circundante foi inferior à unidade. Actualmente são utilizados vários tratamentos com vista à redução do SEY em vários tipos de amostras, tratamentos que incluem a deposição de um filme fino de um material com uma baixa taxa de electrões secundários, a limpeza da superfície, e a utilização de materiais porosos ou com a superfície rugosa [2–4]. Os filmes finos de carbono amorfo são hoje em dia utilizados no revestimento da câmara de vácuo do Super Proton Synchrotron (SPS), pois devido ao seu baixo valor de taxa de produção de electrões secundários (SEY) e ao facto de serem pouco reactivos ao ar, fornecem uma boa solução para a supressão das indesejadas nuvens electrónicas [5]. A presente dissertação baseou-se no estudo de amostras de carbono amorfo (a-C) com o objectivo de compreender as variações do seu SEY com a exposição a diferentes ambientes e com o aquecimento das amostras a diferentes temperaturas, ao ar. O aquecimento das amostras resultou não só numa recuperação do SEY das amostras, como num posterior envelhecimento mais lento. Foram utilizadas várias técnicas de análise de superfícies (e.g. espectroscopia de fotoelectrões de raios-X, espectrometria de massa de iões secundários, espectroscopia de Raman) que fornecem informações valiosas acerca da composição química da amostra (sobretudo da superfície) permitindo relacionar a quantidade de determinados componentes na superfície da amostra e em profundidade, com os valores do SEY.Faculdade de Ciências e TecnologiaSilva, Ana G.RUNCandeias, Sara Raquel Martins2013-01-09T10:48:49Z20122012-01-01T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/10362/8477porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)instname:Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informaçãoinstacron:RCAAP2024-03-11T03:41:07Zoai:run.unl.pt:10362/8477Portal AgregadorONGhttps://www.rcaap.pt/oai/openaireopendoar:71602024-03-20T03:18:13.293954Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos) - Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informaçãofalse
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