Caracterização por Espectroscopia Fotoelectrónica de Raios X (XPS) de filmes de polipirrole em cobre

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Cascalheira,A. C.
Data de Publicação: 2008
Outros Autores: Abrantes,L. M.
Tipo de documento: Artigo
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
Texto Completo: http://scielo.pt/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0870-11642008000100001
Resumo: Filmes de polipirrole foram electroquimicamente depositados em substratos de cobre, a partir de soluções aquosas contendo iões salicilato. Os registos dos transientes de potencial, obtidos sob controlo galvanostático, revelaram a deposição eficaz do polímero nesse metal, evendenciada pela ausência de um período de dissolução do metal base. A comparação dos resultados obtidos em cobre com os registados em platina, permite inferir que o processo de electropolimerização não é influenciado, de forma significativa, pela natureza do substrato. A caracterização dos filmes por Espectroscopia Electrónica de Raios X (XPS), confirmou a deposição de um película de polipirrole uniforme. Uma análise detalhada nos resultados de XPS, para as diferentes interfaces, revelou que a perda de aderência do revestimento, observada após ser submetido a um potencial constante inferior a -0,5 V vs. ESC, resulta da remoção total da camada passivante intermédia formada.
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