Microscopia de força atómica: observações de amostras de mármore

• Autor(a) principal: Lopes, João Carlos Chícharo
• Data de Publicação: 2005
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10174/14895
• topic: Efeito túnel; Microscópio de efeito túnel; Microscópio de força atómica; Mármore; Tratamento térmico; Tunnel effect; Scanning tunneling microscope; Atomic force microscope; Marble; Thermal treatment

Uma breve descrição de alguns aspectos da Mecânica Quântica e de um fenómeno em particular – Efeito de Túnel – permite-nos entrar no campo das microscopias de varrimento por sonda, onde se destacam dois aparelhos: o Microscópio de Efeito de Túnel (STM) e o Microscópio de Força Atómica (AFM). O STM, consiste essencialmente numa ponta de prova metálica que efectua um varrimento sobre a superfície a ser investigada. A corrente de túnel que circula entre a superfície e a ponta é muito sensível à distância que as separa. Essa extrema dependência é a base do STM. O AFM baseia-se na detecção de forças de pequeníssima intensidade entre a ponta de prova e a superfície da amostra e apresenta como grande vantagem sobre o STM, a possibilidade de utilização sobre uma maior diversidade de amostras. Neste trabalho utilizámos um AFM na observação de amostras de mármore, de origens totalmente distintas, após terem sido submetidas a tratamento térmico. /***Abstract - A quick description of some aspects of Quantum Mechanics and of a quantum phenomenon in particular – tunnel effect – we go through the Scanning Probe Microscopy. In this field there are two exponents: Scanning Tunneling Microscope (STM) and Atomic Force Microscope (AFM). The STM consists essentially in scanning a metal tip over the surface to be investigated. The tunnel current which circulates between the samples to a tip is a sensitive function of the distance sample-tip. This strong dependence is the basis of the STM. The atomic force microscope is based in the detection of small intensity forces between the tip and the sample surface. The atomic force microscope shows a great advantage on the STM, the possibility of being used over a greatest variety of samples. In this work, we used an AFM to study marble samples, from two completely different origins, after thermal treatment.