Desenvolvimento de modelos de reclassificação automática de defeitos numa indústria de semicondutores

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Mafalda Vieira Giesta
Data de Publicação: 2021
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
Texto Completo: https://hdl.handle.net/10216/134950
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