Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Rodrigues, Tiago Filipe Marques
Data de Publicação: 2019
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: eng
Título da fonte: Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10316/88142
Resumo: Dissertação de Mestrado Integrado em Engenharia Electrotécnica e de Computadores apresentada à Faculdade de Ciências e Tecnologia
id RCAP_ef2cac87946cfe3907cbc84cc6f163f5
oai_identifier_str oai:estudogeral.uc.pt:10316/88142
network_acronym_str RCAP
network_name_str Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
repository_id_str 7160
spelling Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipmentInfluência do envelhecimento de equipamentos eletrónicos no seu desempenho de CEMCompatibilidade Electromagnética (CEM)EnvelhecimentoEmissões conduzidasEN 55032Ensaios de CEMElectromagnetic Compatibility (EMC)AgeingConducted EmissionsEN 55032EMC TestsDissertação de Mestrado Integrado em Engenharia Electrotécnica e de Computadores apresentada à Faculdade de Ciências e TecnologiaDado o elevado número de aparelhos electrónicos que estão em constante funcionamento nosdias que correm, a Compatibilidade Eletromagnética (CEM) é uma área fulcral para que sejapossível utilizar de forma harmoniosa todos estes aparelhos electrónicos no dia-a-dia. A CEMé um ramo da engenharia que estuda a geração, receção e propagação de energia eletromagnética sendo que, este tem como objetivo o funcionamento, de forma satisfatória, de qualqueraparelho no seu ambiente eletromagnético sem causar distúrbios inaceitáveis nesse mesmoambiente. As normas do Comité Internacional Spécial des Perturbations Radioelectriques(CISPR) regem os aparelhos fabricados com vista à comercialização na Europa, para queestes mesmos sejam testados no seu início do ciclo de vida e postos no mercado. Apesar de,em termos normativos, a CEM dos aparelhos dever ser garantida durante o seu tempo devida útil, o comportamento destes engenhos ao longo do seu tempo de vida é desconhecido.As Fontes de Alimentação Comutadas são aparelhos que devido ao seu design complexogeram alguma interferência eletromagnética. Assim, o foco desta dissertação será estudar ocomportamento deste tipo de fontes ao nível do seu desempenho de CEM, mais especificamenteem termos de emissões conduzidas, após o seu envelhecimento numa plataforma deenvelhecimento. É também estudado o comportamento elétrico e térmico de alguns componentesde forma a tentar compreender de onde eventualmente poderão ser provenienteseventuais alterações de comportamento eletromagnético de emissões conduzidas.Por forma a envelhecer as fontes de alimentação comutadas foram efectuados vários blocosde comutações, ligando e desligando as fontes com um período tempo definido. Este processofoi efectuado em dois conjuntos de fontes novas de duas marcas diferentes. Cada um destesconjuntos teve fontes envelhecidas em vazio bem como fontes envelhecidas enquanto ligadasa uma carga. Após cada conjunto de comutações foram efectuados os testes de conformidadede emissões conduzidas, para poder avaliar se o desempenho destas mesmas fontes sofreualterações devido ao envelhecimento elétrico.Alguns dos componentes destas fontes demonstraram comportamentos térmicos diferentesestando as fontes ligadas de forma continua ou sendo as fontes ligadas e desligadasciclicamente.As fontes de alimentação envelhecidas em vazio demonstraram poucas alterações a níveldo seu comportamento em termos de emissões conduzidas, enquanto que as fontes envelhecidasligadas a uma carga demonstraram uma notória alteração no seu comportamento,chegando mesmo a ultrapassar os limites padrão de CEM que devem ser respeitados a nívelinternacional.O trabalho desenvolvido demonstrou que o envelhecimento dos equipamentos influenciouas medições de emissões conduzidas.Considering the large number of electronic devices available nowadays in our surroundings,Electromagnetic Compatibility (EMC) is a very important area which allows a harmonioususe of all these equipments on our daily lives. EMC is the engineering branch that studiesgeneration, reception and propagation of electromagnetic energy. Its purpose the functioning,in a satisfactory way, of any device in its electromagnetic environment without causingdisturbances on that same environment. The Comité Internacional Spécial des PerturbationsRadioelectriques (CISPR) regulates manufactured apparels aimed to be commercialized inEurope. These same equipment are tested in the design and beginning phases of their lifecycles and sent to the marketplace. Although, in normative terms, the EMC performance ofthese devices must be guaranteed during their useful life cycle, the behavior of these devicesthroughout their continuous use is unknown.Switch-Mode Power Supplies are devices that, due to its complex design, are propitiousto generate a considerable amount of electromagnetic interference. This fact turns the focusof this dissertation to be the study of the EMC performance behavior, in terms of conductedemissions, of these power supplies after the use of an electrical ageing platform. The electricaland thermal behavior is studied in order to try to understand where and why any conductedemissions changes might come from if they happen.In order to age a Switch-Mode Power Supply (SMPS), several blocks of "on-off" iterationshave been performed with a prede ned "on-off" time. This process was executed on two setsof new, o the box, power supplies of two di erent brands. These two sets of units, wereaged with load and without load. After each block of iterations, EMC compliance tests werecarried out to and out if the EMC performance, in termos of conducted emissions, of thesesame power supplies changed because of the electrical ageing.Some of the internal components of these SMPSs displayed di erent thermal behavior onpower supplies that were continuously turned on with those switched on and off repeatedly.Power supplies aged without a load have shown only small di erences in their EMCconducted emissions performance while aged power supplies with a load exhibited signi cantchanges in their EMC conducted emissions behavior, even exceeding the EMC standard limitsfor conducted emissions that must be met internationally.The present work showed that the ageing of electronic devices afects their conductedemissions measurements.2019-02-22info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesishttp://hdl.handle.net/10316/88142http://hdl.handle.net/10316/88142TID:202306496engRodrigues, Tiago Filipe Marquesinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)instname:Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informaçãoinstacron:RCAAP2021-05-12T08:55:31Zoai:estudogeral.uc.pt:10316/88142Portal AgregadorONGhttps://www.rcaap.pt/oai/openaireopendoar:71602024-03-19T21:08:55.172180Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos) - Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informaçãofalse
dc.title.none.fl_str_mv Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
Influência do envelhecimento de equipamentos eletrónicos no seu desempenho de CEM
title Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
spellingShingle Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
Rodrigues, Tiago Filipe Marques
Compatibilidade Electromagnética (CEM)
Envelhecimento
Emissões conduzidas
EN 55032
Ensaios de CEM
Electromagnetic Compatibility (EMC)
Ageing
Conducted Emissions
EN 55032
EMC Tests
title_short Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
title_full Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
title_fullStr Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
title_full_unstemmed Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
title_sort Influence of ageing on the EMC performance of electronic equipment
author Rodrigues, Tiago Filipe Marques
author_facet Rodrigues, Tiago Filipe Marques
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Rodrigues, Tiago Filipe Marques
dc.subject.por.fl_str_mv Compatibilidade Electromagnética (CEM)
Envelhecimento
Emissões conduzidas
EN 55032
Ensaios de CEM
Electromagnetic Compatibility (EMC)
Ageing
Conducted Emissions
EN 55032
EMC Tests
topic Compatibilidade Electromagnética (CEM)
Envelhecimento
Emissões conduzidas
EN 55032
Ensaios de CEM
Electromagnetic Compatibility (EMC)
Ageing
Conducted Emissions
EN 55032
EMC Tests
description Dissertação de Mestrado Integrado em Engenharia Electrotécnica e de Computadores apresentada à Faculdade de Ciências e Tecnologia
publishDate 2019
dc.date.none.fl_str_mv 2019-02-22
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10316/88142
http://hdl.handle.net/10316/88142
TID:202306496
url http://hdl.handle.net/10316/88142
identifier_str_mv TID:202306496
dc.language.iso.fl_str_mv eng
language eng
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
instname:Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informação
instacron:RCAAP
instname_str Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informação
instacron_str RCAAP
institution RCAAP
reponame_str Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
collection Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
repository.name.fl_str_mv Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos) - Agência para a Sociedade do Conhecimento (UMIC) - FCT - Sociedade da Informação
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1799133982481186816

Registros relacionados