Quantificação de danos e relações entre severidade, medidas de refletância e produtividade no patossistema ferrugem asiática da soja

• Autor(a) principal: Hikishima,Marceli
• Data de Publicação: 2010
• Outros Autores: Canteri,Marcelo Giovanetti, Godoy,Cláudia V, Koga,Lucimara J, Silva,Alexandre J. da
• Tipo de documento: Artigo
• Idioma: por
• Título da fonte: Tropical plant pathology (Online)
• Texto Completo: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1982-56762010000200004
• topic: Glycine max; Phakopsora pachyrhizi; sensoriamento remoto; radiômetro; índice vegetativo da diferença normalizada (IVDN)

Os objetivos deste trabalho foram obter funções de dano para o patossistema ferrugem asiática da soja e verificar o potencial de uso de medidas de refletância para quantificar os danos causados pela doença. Experimentos foram conduzidos no município de Londrina, PR, nas safras 2005/06 e 2006/07. Ensaios foram repetidos em diferentes épocas de semeadura, a fim de obter intensidade variável da doença em diferentes estádios fenológicos. O delineamento experimental foi em blocos ao acaso, com quatro repetições. Para obter gradiente de doença foram utilizadas diferentes épocas para aplicações de fungicida nas cultivares BRS 133 e Coodetec 217. A severidade da doença foi estimada em intervalos semanais e utilizada para calcular a área abaixo da curva de progresso da doença (AACPD). Medições da porcentagem de luz solar refletida pelo dossel foram obtidas com um radiômetro portátil de múltiplo espectro. O índice vegetativo da diferença normalizada (IVDN) foi calculado utilizando os comprimentos de onda na faixa do vermelho (660 nm) e do infravermelho próximo (810 nm). As variáveis AACPD e IVDN apresentaram alta correlação com a produtividade, com R² médio de 91,5% e 86,7%, respectivamente. Variações na severidade da doença entre as safras afetaram a relação AACPD x produtividade. Medidas de refletância podem ter sofrido a interferência da época de cultivo e das cultivares diferentes utilizadas nos experimentos.