Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2022 |
Tipo de documento: | Trabalho de conclusão de curso |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da UFAM |
Texto Completo: | http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/6289 |
Resumo: | Analog-to-digital converters allow digital systems to access the physical analog variables present in the world, but to ensure the quality of the data provided it is necessary to know the performance parameters of the converter. In this course conclusion work, a test circuit for an analog-to-digital converter with input range and programmable resolution using a switched capacitor is developed. The converter was designed at the transistor level and manufactured using AMS 0.35 µ CMOS technology, but its operation and performance still need to be tested experimentally. Its method of operation is studied for application of tests with ramp and sinusoidal signals, through a digital-analog converter and a board with ARM microcontroller. From the results obtained, the static and dynamic parameters of the converter are extracted for a resolution range of 5 and 8 bits, with unity gain and 1.5 times. At the end of the tests, it was possible to validate the performance of the converter for the full 5-bit range, with satisfactory results, however improvements need to be made in the testing methodology for the 8-bit resolution. |
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Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveadosConversor analógico-digitalParâmetros estáticosParâmetros dinâmicosConversor integradorENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA: CIRCUITOS ELETRICOS, MAGNETICOS E ELETRONICOS: CIRCUITOS ELETRONICOSProcessamento eletrônico de dadosConversores analógicos-digitaisAnalog-to-digital converters allow digital systems to access the physical analog variables present in the world, but to ensure the quality of the data provided it is necessary to know the performance parameters of the converter. In this course conclusion work, a test circuit for an analog-to-digital converter with input range and programmable resolution using a switched capacitor is developed. The converter was designed at the transistor level and manufactured using AMS 0.35 µ CMOS technology, but its operation and performance still need to be tested experimentally. Its method of operation is studied for application of tests with ramp and sinusoidal signals, through a digital-analog converter and a board with ARM microcontroller. From the results obtained, the static and dynamic parameters of the converter are extracted for a resolution range of 5 and 8 bits, with unity gain and 1.5 times. At the end of the tests, it was possible to validate the performance of the converter for the full 5-bit range, with satisfactory results, however improvements need to be made in the testing methodology for the 8-bit resolution.Conversores analógico-digitais permitem que sistemas digitais tenham acesso as variáveis físicas analógicas presentes no meio, mas para assegurar a qualidade dos dados prestados é necessário conhecer os parâmetros de desempenho do conversor. Neste trabalho de conclusão de curso é desenvolvido um circuito de testes para um conversor analógico-digital integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitor chaveado. O conversor foi projetado em nível de transistores e fabricado com tecnologia AMS 0,35 µ CMOS, mas ainda é necessário comprovar experimentalmente seu funcionamento e desempenho. Seu método de funcionamento é estudado para aplicação de testes com sinais de rampa e senoidais, por meio de um conversor digital-analógico e uma placa com microcontrolador ARM. A partir dos resultados obtidos, são extraídos os parâmetros estáticos e dinâmicos do conversor para faixa de resolução de 5 e 8 bits, com ganho unitário e de 1,5 vezes. Ao fim dos testes, foi possível validar o desempenho do conversor para a faixa de 5 bits completa, com resultados satisfatórios, no entanto melhorias precisam ser feitas na metodologia de testes para a resolução de 8 bits.3NãoBrasilFT - Faculdade de TecnologiaManaus (AM)Engenharia Elétrica – Eletrônica - Bacharelado - ManausBezerra, Thiago Britohttp://lattes.cnpq.br/6915300464157124Silva Júnior, Waldir Sabino dahttp://lattes.cnpq.br/2925380715531711Marques, Greicy Costahttp://lattes.cnpq.br/7674926694884819Pereira, Vinicius Matheus Batista2022-09-16T21:55:50Z2022-09-152022-09-16T21:55:50Z2022-09-12info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/bachelorThesishttp://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/6289porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFAMinstname:Universidade Federal do Amazonas (UFAM)instacron:UFAM2022-09-16T21:56:34Zoai:localhost:prefix/6289Repositório InstitucionalPUBhttp://riu.ufam.edu.br/oai/requestopendoar:2022-09-16T21:56:34Repositório Institucional da UFAM - Universidade Federal do Amazonas (UFAM)false |
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