Efeito de altas pressões no composto intermetálico Bi3Ni nanoestruturado produzido por Mecano-Síntese

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Rebelo, Querem Hapuque Felix
Data de Publicação: 2019
Outros Autores: http://lattes.cnpq.br/3766030758754641
Tipo de documento: Tese
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFAM
Texto Completo: https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/7632
Resumo: Esta tese descreve resultados da investigação da estrutura cristalina Bi3Ni usando medidas de difração de raios X (DRX) registradas em fonte síncrotron em condições extremas (altas pressões). O composto Bi3Ni na forma de pó A amostra em pó policristalino foi sintetizado pelo método de mecano-síntese usando um moinho planetário. Em seguida ele foi caracterizado em condições ambientes por difração de raios X na geometria de reflexão, refinamento Rietveld, microscopia eletrônica de varredura e transmissão, espectroscopia Raman e medidas magnéticas. Após, uma amostra foi compactada em uma célula de bigorna, e dados de DRX in situ foram coletados usando radiação monocromática com energia de 20 KeV. Os difratogramas mostram a presença da fase Bi3Ni até 30 GPa e usando o método de Rietveld. Os difratogramas foram refinados e os valores dos parâmetros de rede em função da pressão foram usados na equação de estado de Birch-Murnargan (EoS-BM) de 3ª ordem para se obter os valores do módulo volumétrico (B0) e sua derivada de primeira (B’0) e os valores dos módulos lineares B0a, B’0a, B’0b, B’0b, B0c e B’0c. Durante o refinamento Rietveld o modelo de Stephens foi usado para construir mapas de microdeformação anisiotrópica em função da pressão para analisar a direção de maior deformação. Usando coordenadas atômicas e parâmetros de rede refinados e os obtidos de cálculos ab initio foram construídas estruturas de camadas com raio de 30 Å para estudar funções de distribuições de pares e mapas de Fourier para investigação de densidade de cargas em função da pressão. Também foram construídos ordem química de curto alcance (CSRO)
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