Avaliação dos tempos de teste de produtos eletrônicos

• Autor(a) principal: Ferraz, Leandro Alves
• Data de Publicação: 2010
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFAM
• Texto Completo: http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3543
• topic: Paralelismo; Parallelism; Instrument drivers utilization; ENGENHARIAS: ENGENHARIA DE PRODUÇÃO

A introdução do conceito de linha de montagem por Henry Ford, trouxe um grande avanço à eficiência do uso dos recursos e transformações durante o processo fabril. Mais tarde com Ohno (1988), mostrou-se que durante o processo fabril, todo o desperdício deve ser removido do processo. Ohno ainda explica que desperdício é toda atividade que não agrega valor ao produto final. Como o teste de produção não agrega valor ao produto final, apenas garante a confiabilidade do mesmo, o presente trabalho tem como objetivo desenvolver uma metodologia para identificar e reduzir os tempos de testes mais demorados de uma sequência de testes de produtos eletrônicos sem que seja diminuída a qualidade dos produtos. Baseado na análise da utilização dos instrumentos dos testes é possível a identificação dos pontos candidatos a serem executados concorrentemente (paralelismo). A execução de dois ou mais testes em paralelo nas sequências torna possível a redução do tempo total de testes do produto. Um histórico dos tempos e resultados foi catalogado para através da utilização de índices estatísticos como a média e o desvio padrão dos resultados, juntamente com o índice Cpk dos limites dos testes, poder comprovar não só a eficiência, mas também a eficácia da metodologia. Além da metodologia, o trabalho também cita as ferramentas de análise e automação de redução de tempos de testes que foram desenvolvidas ao longo do projeto. A metodologia se mostrou eficaz e não apenas os tempos de testes foram reduzidos, mas, também, os resultados se mostraram igualmente confiáveis.