Caracterização de tags RFID por reflectometria.

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: MAIA, Ayslan Caisson Norões.
Data de Publicação: 2011
Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG
Texto Completo: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/19349
Resumo: O objetivo desse estágio é desenvolver um dispositivo de medição à distância da impedância de entrada de antenas pequenas em relação ao comprimento de onda de funcionamento. Na sequência, nos interessamos em aplicar esse método de caracterização à medição da variação da impedância de entrada que aparece durante a retro-modulação dos chips RFID. O uso de um analisador vetorial de sinais permitirá, juntamente com o dispositivo de medição desenvolvido, medir os sinais de demodulação IQ (em fase/em quadratura) e ter acesso aos dois estados de impedância.
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Na sequência, nos interessamos em aplicar esse método de caracterização à medição da variação da impedância de entrada que aparece durante a retro-modulação dos chips RFID. O uso de um analisador vetorial de sinais permitirá, juntamente com o dispositivo de medição desenvolvido, medir os sinais de demodulação IQ (em fase/em quadratura) e ter acesso aos dois estados de impedância.Universidade Federal de Campina GrandeUFCGBrasilCentro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEIEngenharia Elétrica.Estágio em Engenharia ElétricaEstágio na FrançaTags RFIDReflectometriaLaboratório de Concepção e de Integração de Sistemas - Grenoble INP ESISARGrenoble INP - FrançaTecnologia RFIDIdentificação por radiofrequênciaImpedância de entrada de antenasMedição à distância da impedância de entradaRetro-modulação de chips RFIDAnalisador vetorial de sinaisSinais de demodulação IQ - mediçãoInternship in Electrical EngineeringInternship in FranceRFID tagsReflectometrySystems Design and Integration Laboratory - Grenoble INPGrenoble INP - FranceRFID technologyRadio frequency identificationAntenna Input ImpedanceDistance measurement of input impedanceRetro-modulation of RFID chipsSignal vector analyzerIQ demodulation signals - measurementCaracterização de tags RFID por reflectometria.Characterization of RFID tags by reflectometry.2011-112021-06-11T17:34:22Z2021-06-112021-06-11T17:34:22Zhttp://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/19349MAIA, Ayslan Caisson Norões. Caracterização de tags RFID por reflectometria. 2011. 59f. (Relatório de Estágio Integrado) Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática, Universidade Federal de Campina Grande - Paraíba - Brasil, 2011. Disponível em: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/19349info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/bachelorThesisporinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCGinstname:Universidade Federal de Campina Grande (UFCG)instacron:UFCGLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/xmlui/bitstream/riufcg/19349/2/license.txt8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD52ORIGINALAYSLAN CAISSON NORÕES MAIA - RELATÓRIO DE ESTÁGIO ENG. ELÉTRICA 2011.pdfAYSLAN CAISSON NORÕES MAIA - RELATÓRIO DE ESTÁGIO ENG. 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